Skip navigation

putin IS MURDERER

Електроніка. – 2005. – №532 : [32] Collection home page

Вісник Національного університету “Львівська політехніка”

У Віснику опубліковані результати наукові-технічних досліджень в області технологічних, експериментальних, теоретичних та методологічних проблем електроніки, фізики і техніки напівпровідників та напівпровідникового матеріалознавства, фізики твердого тіла, фізики, техніки та використання елементів, приладів та систем сучасної електронної техніки. Тематика вісника Національного університету “Львівська політехніка” “Електроніка” охоплює такі розділи електроніки: матеріали електронної техніки; фізика, технологія та виробництво елементів, приладів та систем електронної техніки; фізика і техніка напівпровідників, металів, діелектриків та рідких кристалів; експериментальні та теоретичні дослідження електронних процесів; методика досліджень. У Віснику “Електроніка” публікуються оглядові та дослідницькі роботи, присвячені його тематиці (але не обмежені лише нею). Роботи можуть бути представлені як співробітниками Львівської політехніки, так і будь-яких інших навчальних чи наукових закладів. Роботи друкуються українською мовою. Для наукових працівників, інженерів і студентів старших курсів електрофізичних та технологічних спеціальностей.

Вісник Національного університету “Львівська політехніка” : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки України, Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. – № 532 : Електроніка / відповідальний редактор Д. Заярчук. – 186 с. : іл.

Вісник Національного університету “Львівська політехніка”

Зміст


1
3
15
21
24
28
33
42
48
54
60
65
68
74
81
85
90
99
105
112
117
126
129
133
138
147
153
160
164
170
178
184

Content


1
3
15
21
24
28
33
42
48
54
60
65
68
74
81
85
90
99
105
112
117
126
129
133
138
147
153
160
164
170
178
184

Browse
Subscribe to this collection to receive daily e-mail notification of new additions RSS Feed RSS Feed RSS Feed
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 20 of 32
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)PreviewTypeIssue DateTitleAuthor(s)
1-Mar-2005Розробка системи обробки інформації з мікроелектронних сенсорів на основі КНІ-структурДружинін, А. О.; Матвієнко, С. М.; Панков, Ю. М.; Druzhinin, A. O.; Matviyenko, S. M.; Pankov, Y. M.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Розробка системи обробки інформації з мікроелектронних сенсорів на основі КНІ-структурДружинін, А. О.; Матвієнко, С. М.; Панков, Ю. М.; Druzhinin, A. O.; Matviyenko, S. M.; Pankov, Y. M.
1-Mar-2005Вплив розподілу струму розряду по катоду комірки Пеннінга на рівномірність напилених плівокШандра, З. А.; Shandra, Z. A.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Вплив розподілу струму розряду по катоду комірки Пеннінга на рівномірність напилених плівокШандра, З. А.; Shandra, Z. A.
1-Mar-2005Модифікація властивостей приповерхневих шарів мішеней HgCdTe лазерним опроміненням у режимі видалення матеріалуЛопатинський, І. Є.; Рудий, І. О.; Курило, І. В.; Вірт, І. С.; Фружинський, М. С.; Кемпник, В. І.; Lopatynskii, I. Ye.; Rudyi, I. O.; Kurilo, I. V.; Virt, I. S.; Fruginskii, M. S.; Kempnyk, V. I.; Національний університет “Львівська політехніка”; Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка; НВП “Карат”Article1-Mar-2005Модифікація властивостей приповерхневих шарів мішеней HgCdTe лазерним опроміненням у режимі видалення матеріалуЛопатинський, І. Є.; Рудий, І. О.; Курило, І. В.; Вірт, І. С.; Фружинський, М. С.; Кемпник, В. І.; Lopatynskii, I. Ye.; Rudyi, I. O.; Kurilo, I. V.; Virt, I. S.; Fruginskii, M. S.; Kempnyk, V. I.
1-Mar-2005Керування дефектністю приповерхневих шарів кремнієвої структури через зміну фононного тиску, викликаного проходженням через кристал лазерної ударної хвиліКовалюк, Богдан Павлович; Нікіфоров, Юрій Миколайович; Kovalyuk, B. P.; Nikiforov, Yu. N.; Тернопільський державний технічний університет ім. Івана ПулюяArticle1-Mar-2005Керування дефектністю приповерхневих шарів кремнієвої структури через зміну фононного тиску, викликаного проходженням через кристал лазерної ударної хвиліКовалюк, Богдан Павлович; Нікіфоров, Юрій Миколайович; Kovalyuk, B. P.; Nikiforov, Yu. N.
1-Mar-2005Керування концентрацією носіїв заряду в епітаксійних шарах AlGaAs для лазерних структур, вирощуваних методом низькотемпературної рідинно-фазної епітаксіїЗаячук, Д. М.; Круковський, С. І.; Мрихін, І. О.; Zayachuk, D. M.; Krukovsky, S. I.; Mrykhin, I. O.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Керування концентрацією носіїв заряду в епітаксійних шарах AlGaAs для лазерних структур, вирощуваних методом низькотемпературної рідинно-фазної епітаксіїЗаячук, Д. М.; Круковський, С. І.; Мрихін, І. О.; Zayachuk, D. M.; Krukovsky, S. I.; Mrykhin, I. O.
1-Mar-2005Особливості переходу аморфного селену в кристалічний станДутчак, З. А.; Ракобовчук, Л. М.; Dutchak, Z.; Rakobovchuk, L.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Особливості переходу аморфного селену в кристалічний станДутчак, З. А.; Ракобовчук, Л. М.; Dutchak, Z.; Rakobovchuk, L.
1-Mar-2005Області застосування наближених методів аналізу дифракції на фазових граткахФітьо, В. М.; Петровська, Г. А.; Мисак, В. В.; Fitio, V. M.; Petrovska, H. A.; Myssak, V. V.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Області застосування наближених методів аналізу дифракції на фазових граткахФітьо, В. М.; Петровська, Г. А.; Мисак, В. В.; Fitio, V. M.; Petrovska, H. A.; Myssak, V. V.
1-Mar-2005Зміст до Вісника “Електроніка”-Article1-Mar-2005Зміст до Вісника “Електроніка”-
1-Mar-2005Фототепловий метод визначення коефіцієнта поглинання дзеркальних покритьПетровська, Г. А.; Демкович, І. В.; Бобицький, Я. В.; Petrovska, H. A.; Demkovytch, I. V.; Bobytski, Y. V.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Фототепловий метод визначення коефіцієнта поглинання дзеркальних покритьПетровська, Г. А.; Демкович, І. В.; Бобицький, Я. В.; Petrovska, H. A.; Demkovytch, I. V.; Bobytski, Y. V.
1-Mar-2005Особливості технології вирощування мікрокристалів InSb, легованих ербіємБольшакова, І. А.; Кость, Я. Я.; Луців, Р. В.; Макідо, О. Ю.; Московець, Т. А.; Bolshakova, I. A.; Kost’, Ya. Ya.; Lutsiv, R. V.; Makido, O. Yu.; A Moskovets’, T.; Національний університет “Львівська політехніка”; Львівський національний університет ім. І. ФранкаArticle1-Mar-2005Особливості технології вирощування мікрокристалів InSb, легованих ербіємБольшакова, І. А.; Кость, Я. Я.; Луців, Р. В.; Макідо, О. Ю.; Московець, Т. А.; Bolshakova, I. A.; Kost’, Ya. Ya.; Lutsiv, R. V.; Makido, O. Yu.; A Moskovets’, T.
1-Mar-2005Вимірювання товщини тонкого шару рідини на поверхні твердого тіла фотоакустичним методом (числове моделювання)Мокрий, О. М.; Mokryy, O. M.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Вимірювання товщини тонкого шару рідини на поверхні твердого тіла фотоакустичним методом (числове моделювання)Мокрий, О. М.; Mokryy, O. M.
1-Mar-2005Модель нерівноважної плазми пульсівної негативної корониЧигінь, В. І.; Карп’як, С. Ю.; Chyhin, V. I.; Karpyak, S. Yu.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Модель нерівноважної плазми пульсівної негативної корониЧигінь, В. І.; Карп’як, С. Ю.; Chyhin, V. I.; Karpyak, S. Yu.
1-Mar-2005Щодо можливості визначення оптичних параметрів тонких плівок методом еліпсометрії та оцінка їх кореляціїДанилов, А. Б.; Danylov, A. B.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Щодо можливості визначення оптичних параметрів тонких плівок методом еліпсометрії та оцінка їх кореляціїДанилов, А. Б.; Danylov, A. B.
1-Mar-2005Вплив термообробки в інтервалі 650–1100 0С на магнітну сприйнятливість Cz-N-SiЦмоць, В. М.; Литовченко, П. Г.; Литовченко, О. П.; Новиков, М. М.; Павловський, Ю. В.; Салань, В. П.; Пацай, Б. Д.; Tsmots, V. M.; Litovchenko, P. G.; Litovchenko, O. P.; Novikov, N. N.; Pavlovskii, Yu. V.; Salan, V. P.; Patsai, B. D.; Міжвідомча лабораторія матеріалів твердотільної мікроелектроніки НАН та МОН України при Дрогобицькому ДПУ імені Івана Франка; Науковий центр “Інститут ядерних досліджень” НАНУ; Київський національний університет імені Тараса ШевченкаArticle1-Mar-2005Вплив термообробки в інтервалі 650–1100 0С на магнітну сприйнятливість Cz-N-SiЦмоць, В. М.; Литовченко, П. Г.; Литовченко, О. П.; Новиков, М. М.; Павловський, Ю. В.; Салань, В. П.; Пацай, Б. Д.; Tsmots, V. M.; Litovchenko, P. G.; Litovchenko, O. P.; Novikov, N. N.; Pavlovskii, Yu. V.; Salan, V. P.; Patsai, B. D.
1-Mar-2005Перехідні характерисики джозефсонівських кріотронів при азотних температурахТиханський, М. В.; Крисько, Р. Р.; Партика, А. І.; Tyhanskyi, M. V.; Krysko, R. R.; Partyka, A. I.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Перехідні характерисики джозефсонівських кріотронів при азотних температурахТиханський, М. В.; Крисько, Р. Р.; Партика, А. І.; Tyhanskyi, M. V.; Krysko, R. R.; Partyka, A. I.
1-Mar-2005Критерій вибору глибини кулонової потенціальної ями в кремніїСиротюк, С. В.; Краєвський, С. Н.; Кинаш, Ю. Є.; Syrotyuk, S. V.; Kraevsky, S. N.; Kynash, Yu. E.; Національний університет “Львівська політехніка”; Український державний лісотехнічний університетArticle1-Mar-2005Критерій вибору глибини кулонової потенціальної ями в кремніїСиротюк, С. В.; Краєвський, С. Н.; Кинаш, Ю. Є.; Syrotyuk, S. V.; Kraevsky, S. N.; Kynash, Yu. E.
1-Mar-2005Класифікація подвійних перестановок для електрон-фононної взаємодіїТовстюк, К. К.; Tovstyuk, C. C.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Класифікація подвійних перестановок для електрон-фононної взаємодіїТовстюк, К. К.; Tovstyuk, C. C.
1-Mar-2005Розсіяння електронів на близькодіючому потенціалі у твердому розчині CdXHg1-xte (x=0.52; 0.59, 1)Малик, О. П.; Кеньо, Г. В.; Петрович, І. В.; Malyk, O. P.; Kenyo, G. V.; Petrovych, I. V.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Розсіяння електронів на близькодіючому потенціалі у твердому розчині CdXHg1-xte (x=0.52; 0.59, 1)Малик, О. П.; Кеньо, Г. В.; Петрович, І. В.; Malyk, O. P.; Kenyo, G. V.; Petrovych, I. V.
1-Mar-2005Розрахунок густини електронних станів кремнію методом псевдогрінових функційСобчук, І. С.; Сиротюк, С. В.; Sobchuk, I. S.; Syrotyuk, S. V.; Національний університет “Львівська політехніка”Article1-Mar-2005Розрахунок густини електронних станів кремнію методом псевдогрінових функційСобчук, І. С.; Сиротюк, С. В.; Sobchuk, I. S.; Syrotyuk, S. V.
1-Mar-2005Осциляції магнітоопору ниткоподібних кристалів германію при кріогенних температурахДружинін, А. О.; Мар’ямова, І. Й.; Павловський, І. В.; Ховерко, Ю. М.; Druzhinin, A. A.; Maryamova, I. I.; Pavlovskyy, I. V.; Khoverko, Yu. M.; Національний університет “Львівська політехніка”; Науково-дослідний центр “Кристал”Article1-Mar-2005Осциляції магнітоопору ниткоподібних кристалів германію при кріогенних температурахДружинін, А. О.; Мар’ямова, І. Й.; Павловський, І. В.; Ховерко, Ю. М.; Druzhinin, A. A.; Maryamova, I. I.; Pavlovskyy, I. V.; Khoverko, Yu. M.
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 20 of 32