Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/45563
Title: Дослідження впливу обчислювальних компонентів на похибки результатів вимірювань
Other Titles: Impact of computing components on measurement errors
Authors: Кричевець, О. М.
Krichevets, O.
Affiliation: Державне підприємство “Науково-дослідний інститут метрології вимірювальних і управляючих систем”
State Enterprise “Research Institute of Metrology of Measuring and Control Systems”
Bibliographic description (Ukraine): Кричевець О. М. Дослідження впливу обчислювальних компонентів на похибки результатів вимірювань / О. М. Кричевець // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2018. — Том 79. — № 4. — С. 12–16.
Bibliographic description (International): Krichevets O. Impact of computing components on measurement errors / O. Krichevets // Measuring equipment and metrology : scientific journal. — Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2018. — Vol 79. — No 4. — P. 12–16.
Is part of: Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник, 4 (79), 2018
Measuring equipment and metrology : scientific journal, 4 (79), 2018
Journal/Collection: Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник
Issue: 4
Volume: 79
Issue Date: 26-Feb-2018
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Place of the edition/event: Львів
Keywords: вимірювальна система
кінцевий автомат
метрологічний стан
обчислювальний компонент
функція перетворення похибок вхідних даних
Measuring system
Automatic machine
Metrological unit
Computing component
Transformation function of the errors of input data
Number of pages: 5
Page range: 12-16
Start page: 12
End page: 16
Abstract: Наведено результати досліджень поведінки функцій перетворення похибок вхідних даних для різних типів обчислювальних компонентів вимірювальних систем з метою використання їх узагальнених моделей, розроблених на основі теорії кінцевих автоматів. Показано, що залежно від виду і значення функції перетворення похибок вхідних даних (метрологічного стану обчислювальних компонентів) похибки результатів вимірювань вимірювальними каналами систем мають детермінований характер змін як у статичному, так і в динамічному режимах функціонування обчислювальних каналів. Визначено основні залежності похибок результатів вимірювань від похибок вхідних даних і від типів функцій перетворення вхідних даних, наведено результати їх розрахунку.
In this paper the results of researches of errors transformation functions of input data for various types of computing components of measuring systems are developed on the basis of the theory of finite automata. Depending on the type and value of the error transformation function of the input data or on the metrological state of the computing components, the errors of the measuring channels of the complex systems are inherent in the deterministic character of the changes both in the static and in the dynamic operation modes of the mentioned components. The major dependencies of the measurement results errors on the input data errors and on the types of the input data conversion functions are determined, and the results of their computation are presented. For iterative procedures, the error of input data does not affect the final result of measurement and its accuracy. Measurement error depends on the number of iterations and decreases with its raise. Significantly interesting is the behavior of the errors transformation function for input data. First, its values depend on the number of iterations, and secondly, mainly reducing the errors of the input data from the number of iterations. For chains of a sequential structure, it can be concluded the linear dependence of the measurement error on the error of the input data. The results of the studies of the parallel structure of the computing components indicate an ability to invert the error sign of the input data. Research of the circuits with the cyclic structure envisages that the similar dependence of the measurement errors on the errors of the input data; the behavior of transformation function is characteristic for the above mentioned types of the computing components, concerning the iterative procedures. The difference consists in the next. Computing components of the cyclic structure implement the so-called "spatial" iteration in contrast to the temporal, characteristic for such the components of the other structures.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/45563
Copyright owner: © Національний університет “Львівська політехніка”, 2018
References (Ukraine): 1. О. Кричевець, “Дослідження функцій перетворення обчислювальних каналів вимірювальних систем”, Тези доповідей УІ Міжнародної науково-технічної конференції “Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та системи”, Харків, с. 82, 2017.
2. S. Yatsyshyn, B. Stadnyk “Metrological Array of Cyber- Physical Systems”, Part 12, Study of Quantum Unit of Temperature Sensors and Transducers: no. 192, Issue 9, 2016, pp. 30–36.
3. М. Микийчук, Б. Стадник, C. Яцишин, Я. Луцик, “Розумні вимірювальні засоби для кібер-фізичних систем”, Вимірювальна техніка і метрологія, т. 77, с. 3–16, 2016.
4. S.Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, O. Basalkevych, “Research in Nanothermometry. Part 8. Summary”, Sensors & Transducers, vol. 144, is. 9, p.1–15, 2012.
5. Б. Стадник, С. Яцишин, М. Микийчук, Я. Луцик, П. Скоропад, Т. Фрьоліх, “Метрологічна надійність термо- електричного наносенсора квантового еталона температури”, Вимірювальна техніка і метрологія, т. 79(2), с. 0–28, 2018.
References (International): 1. O. Krichevets, ”Research of transformation functions of measuring channels of measuring systems”, in Abstracts of the YI of the Int. sc. and techn. Conf. “Metrology, information-measuring technologies and systems”, Kharkiv, Ukraine, 2017, p. 82.
2. S. Yatsyshyn, B. Stadnyk, “Metrological Array of Cyber- Physical Systems”, part 12, Study of Quantum Unit of Temperature Sensors and Transducers, vol. 192, is. 9, pp. 30–36, 2015.
3. M. Mykyychuk, B. Stadnyk, S. Yatsyshyn, Y. Lutsyk, “Intelligent measuring instruments for cyber-physical systems”, Measuring equipment and metrology, vol. 77, рр. 3–16, 2016.
4. S.Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, O. Basalkevych, “Research in Nanothermometry. Part 8. Summary”, Sensors & Transducers, vol. 144, is. 9, p.1–15, 2012.
5. B. Stadnyk, S. Yatsyshyn, М. Mykyychuk, Y. Lutsyk, P, Skoropad, T. Frohlich, “Metrological reliability of a thermoelectric nanosensor of a quantum standard of temperature”, Measuring equipment and metrology, vol. 79, is. 2, р. 20–28, 2018.
Content type: Article
Appears in Collections:Вимірювальна техніка та метрологія. – 2018. – Випуск 79, №4

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2018v79n4_Krichevets_O-Impact_of_computing_components_12-16.pdf549.85 kBAdobe PDFView/Open
2018v79n4_Krichevets_O-Impact_of_computing_components_12-16__COVER.png1.19 MBimage/pngView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.