Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/7393
Title: Modeling of threshold voltage in three-dimensional SOI-structures
Authors: Kogut, І. Т.
Scherbyak, V. М.
Bibliographic description (Ukraine): Kogut І. Т. Modeling of threshold voltage in three-dimensional SOI-structures / І. Т. Kogut, V. M. Scherbyak // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 360. – Bibliography: 3 titles.
Issue Date: 2010
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: SOI MOS-transistor
threshold voltage
three-dimensional SOI-structure
П-shaped profile gate
cylinder shaped gate
Abstract: This paper proposed an original approach to the analysis of the threshold voltage metal-oxidesemiconductor structures based on local three-dimensional SOI-structures.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/7393
Content type: Article
Appears in Collections:Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET'2010). – 2010 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
281.pdf70.74 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.