https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/6244| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Sydor, Andriy | - |
| dc.date.accessioned | 2010-10-05T09:04:03Z | - |
| dc.date.available | 2010-10-05T09:04:03Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Sydor A. Estimation of reliability indices for symmetric ramified systems / Andriy Sydor // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 107. – Bibliography: 7 titles. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/6244 | - |
| dc.description.abstract | Main reliability indices for unrestorable symmetric systems ramified to level 3 and with ageing output elements are examined in this paper. Models for the failure probability, the failure frequency and the failure rate are worked out in the case when the lifetime of ageing output elements is circumscribed by the Weibull distribution. | uk_UA |
| dc.language.iso | en | uk_UA |
| dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | uk_UA |
| dc.subject | ramified systems | uk_UA |
| dc.subject | symmetric systems | uk_UA |
| dc.subject | reliability indices | uk_UA |
| dc.subject | ageing elements | uk_UA |
| dc.title | Estimation of reliability indices for symmetric ramified systems | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| Appears in Collections: | Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET'2010). – 2010 р. | |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.