https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/48077| Title: | Вимірювання перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках |
| Authors: | Ющук, Степан Юр'єв, Сергій Юречко, Роман Ніколайчук, В. Й. |
| Affiliation: | Національний університет “Львівська політехніка” Національний університет водного господарства і природокористування |
| Bibliographic description (Ukraine): | Вимірювання перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках / Степан Ющук, Сергій Юр'єв, Роман Юречко, В. Й. Ніколайчук // Вимірювальна техніка та метрологія. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2006. — № 66. — С. 51–56. |
| Bibliographic description (International): | Vymiriuvannia perekhidnykh kontaktnykh oporiv ta yikhnikh volt-ampernykh kharakterystyk na tonkykh plivkakh / Stepan Yushchuk, Serhii Yuriev, Roman Yurechko, V. Y. Nikolaichuk // Vymiriuvalna tekhnika ta metrolohiia. — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2006. — No 66. — P. 51–56. |
| Is part of: | Вимірювальна техніка та метрологія, 66, 2006 |
| Journal/Collection: | Вимірювальна техніка та метрологія |
| Issue: | 66 |
| Issue Date: | 31-Jan-2006 |
| Publisher: | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” |
| Place of the edition/event: | Львів Lviv |
| UDC: | 539.23 537.311.3.082.7 |
| Number of pages: | 6 |
| Page range: | 51-56 |
| Start page: | 51 |
| End page: | 56 |
| Abstract: | Запропоновано способи вимірювання і вимірювальні схеми, які застосовувались під час вимірювання
перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках. Здійснена оцінка точностей вимірювання. A measuring method and measuring schemes which were used for measuring of transitional contact resistances and their volt−current characteristics on thin films is presented. The estimation of measuring exactnesses has been carried out. Предложено способы и измерительные схемы, которые использовались для измерения переходных вольт-амперных характеристик на тонких пленках. Выполнена оценка точности измерения. |
| URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/48077 |
| Copyright owner: | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2006 © Ющук Степан, Юр'єв Сергій, Юречко Роман, Ніколайчук В. Й., 2006 |
| References (Ukraine): | 1. Лях−Кагуй Н.С. Низькотемпературні характеристики ниткоподібних кристалів Si1 Gexx і їх застосування для створення елементної бази сенсорів температури та деформації. Автореф. дис...канд. техн. наук: 05.27.01/Нац. ун−т "Львів. політехн.", −Львів, 2004, −20 с. 2. Стахіра П.Й. Фізико−технологічні засади мікроелектронних сенсорів на основі гетероструктур органічних та неорганічних напівпровіднків. Автореф. дис... доктора техн. наук: 05.27.06/ Нац. ун−т "Львів. політехн.", − Львів, 2005, −30 с. 3. Датчик для вимірювання температури і магнітного поля/С.С.Варшава, Е.Ф.Венгер, А.В.Прохорович, С.І.Ющук. Патент України на винахід №33148А. 2001. Бюл.№1. 4. Дубинко С.В. Датчики магнитного поля на основе эпитаксиальных пленок феррит−гранатов//Ученые записки Симферопольского гос. ун−та. − Симферополь, 1997. − №4(43). −С.30−40. 5. Jakubowska M., Pitt K. Influence of contacts and firing process on properties of thick film resistors on alumina and dielectrics// Journ. Mater. Scince: Materials in Electronics. – 1995. –№6. –P.75–78. 6. Андерсон В., Мартинес Д., Мэджид А.Г. Электрические характеристики контактов из золота и аквадага, нанесенные на поверхность монокристаллов закиси никеля// Приборы для научных исследований. –1970. –№12. – С.28–30. 7. Варшава С.С., Лях Н.С., Стасюк Н.М. Нелінійні ефекти в точкових контактах метал–кремній, метал–кремній–германій// Фізика і хімія твердого тіла. –2001. –т.2, №4. –С.727–734 |
| References (International): | 1. Liakh−Kahui N.S. Nyzkotemperaturni kharakterystyky nytkopodibnykh krystaliv Si1 Gexx i yikh zastosuvannia dlia stvorennia elementnoi bazy sensoriv temperatury ta deformatsii. Avtoref. dys...kand. tekhn. nauk: 05.27.01/Nats. un−t "Lviv. politekhn.", −Lviv, 2004, −20 p. 2. Stakhira P.Y. Fizyko−tekhnolohichni zasady mikroelektronnykh sensoriv na osnovi heterostruktur orhanichnykh ta neorhanichnykh napivprovidnkiv. Avtoref. dys... doktora tekhn. nauk: 05.27.06/ Nats. un−t "Lviv. politekhn.", − Lviv, 2005, −30 p. 3. Datchyk dlia vymiriuvannia temperatury i mahnitnoho polia/S.S.Varshava, E.F.Venher, A.V.Prokhorovych, S.I.Yushchuk. Patent Ukrainy na vynakhid No 33148A. 2001. Bull.No 1. 4. Dubinko S.V. Datchiki mahnitnoho polia na osnove epitaksialnykh plenok ferrit−hranatov//Uchenye zapiski Simferopolskoho hos. un−ta. − Simferopol, 1997. − No 4(43). −P.30−40. 5. Jakubowska M., Pitt K. Influence of contacts and firing process on properties of thick film resistors on alumina and dielectrics// Journ. Mater. Scince: Materials in Electronics, 1995. –No 6. –P.75–78. 6. Anderson V., Martines D., Medzhid A.H. Elektricheskie kharakteristiki kontaktov iz zolota i akvadaha, nanesennye na poverkhnost monokristallov zakisi nikelia// Pribory dlia nauchnykh issledovanii. –1970. –No 12, P.28–30. 7. Varshava S.S., Liakh N.S., Stasiuk N.M. Neliniini efekty v tochkovykh kontaktakh metal–kremnii, metal–kremnii–hermanii// Fizyka i khimiia tverdoho tila. –2001. –V.2, No 4. –P.727–734 |
| Content type: | Article |
| Appears in Collections: | Вимірювальна техніка та метрологія. – 2006. – Випуск 66 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 2006n66_Iushchuk_S-Vymiriuvannia_perekhidnykh_51-56.pdf | 2.06 MB | Adobe PDF | View/Open | |
| 2006n66_Iushchuk_S-Vymiriuvannia_perekhidnykh_51-56__COVER.png | 432 kB | image/png | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.