| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ющук, Степан | |
| dc.contributor.author | Юр'єв, Сергій | |
| dc.contributor.author | Юречко, Роман | |
| dc.contributor.author | Ніколайчук, В. Й. | |
| dc.date.accessioned | 2020-04-03T08:51:47Z | - |
| dc.date.available | 2020-04-03T08:51:47Z | - |
| dc.date.created | 2006-01-31 | |
| dc.date.issued | 2006-01-31 | |
| dc.identifier.citation | Вимірювання перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках / Степан Ющук, Сергій Юр'єв, Роман Юречко, В. Й. Ніколайчук // Вимірювальна техніка та метрологія. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2006. — № 66. — С. 51–56. | |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/48077 | - |
| dc.description.abstract | Запропоновано способи вимірювання і вимірювальні схеми, які застосовувались під час вимірювання
перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках. Здійснена оцінка точностей вимірювання. | |
| dc.description.abstract | A measuring method and measuring schemes which were used for measuring of transitional contact
resistances and their volt−current characteristics on thin films is presented. The estimation of measuring exactnesses has been carried out. | |
| dc.description.abstract | Предложено способы и измерительные схемы, которые использовались
для измерения переходных вольт-амперных характеристик на тонких пленках. Выполнена оценка точности измерения. | |
| dc.format.extent | 51-56 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” | |
| dc.relation.ispartof | Вимірювальна техніка та метрологія, 66, 2006 | |
| dc.title | Вимірювання перехідних контактних опорів та їхніх вольт-амперних характеристик на тонких плівках | |
| dc.type | Article | |
| dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2006 | |
| dc.rights.holder | © Ющук Степан, Юр'єв Сергій, Юречко Роман, Ніколайчук В. Й., 2006 | |
| dc.contributor.affiliation | Національний університет “Львівська політехніка” | |
| dc.contributor.affiliation | Національний університет водного господарства і природокористування | |
| dc.format.pages | 6 | |
| dc.identifier.citationen | Vymiriuvannia perekhidnykh kontaktnykh oporiv ta yikhnikh volt-ampernykh kharakterystyk na tonkykh plivkakh / Stepan Yushchuk, Serhii Yuriev, Roman Yurechko, V. Y. Nikolaichuk // Vymiriuvalna tekhnika ta metrolohiia. — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2006. — No 66. — P. 51–56. | |
| dc.relation.references | 1. Лях−Кагуй Н.С. Низькотемпературні характеристики ниткоподібних кристалів Si1 Gexx і їх застосування для створення елементної бази сенсорів температури та деформації. Автореф. дис...канд. техн. наук: 05.27.01/Нац. ун−т "Львів. політехн.", −Львів, 2004, −20 с. | |
| dc.relation.references | 2. Стахіра П.Й. Фізико−технологічні засади мікроелектронних сенсорів на основі гетероструктур органічних та неорганічних напівпровіднків. Автореф. дис... доктора техн. наук: 05.27.06/ Нац. ун−т "Львів. політехн.", − Львів, 2005, −30 с. | |
| dc.relation.references | 3. Датчик для вимірювання температури і магнітного поля/С.С.Варшава, Е.Ф.Венгер, А.В.Прохорович, С.І.Ющук. Патент України на винахід №33148А. 2001. Бюл.№1. | |
| dc.relation.references | 4. Дубинко С.В. Датчики магнитного поля на основе эпитаксиальных пленок феррит−гранатов//Ученые записки Симферопольского гос. ун−та. − Симферополь, 1997. − №4(43). −С.30−40. | |
| dc.relation.references | 5. Jakubowska M., Pitt K. Influence of contacts and firing process on properties of thick film resistors on alumina and dielectrics// Journ. Mater. Scince: Materials in Electronics. – 1995. –№6. –P.75–78. | |
| dc.relation.references | 6. Андерсон В., Мартинес Д., Мэджид А.Г. Электрические характеристики контактов из золота и аквадага, нанесенные на поверхность монокристаллов закиси никеля// Приборы для научных исследований. –1970. –№12. – С.28–30. | |
| dc.relation.references | 7. Варшава С.С., Лях Н.С., Стасюк Н.М. Нелінійні ефекти в точкових контактах метал–кремній, метал–кремній–германій// Фізика і хімія твердого тіла. –2001. –т.2, №4. –С.727–734 | |
| dc.relation.referencesen | 1. Liakh−Kahui N.S. Nyzkotemperaturni kharakterystyky nytkopodibnykh krystaliv Si1 Gexx i yikh zastosuvannia dlia stvorennia elementnoi bazy sensoriv temperatury ta deformatsii. Avtoref. dys...kand. tekhn. nauk: 05.27.01/Nats. un−t "Lviv. politekhn.", −Lviv, 2004, −20 p. | |
| dc.relation.referencesen | 2. Stakhira P.Y. Fizyko−tekhnolohichni zasady mikroelektronnykh sensoriv na osnovi heterostruktur orhanichnykh ta neorhanichnykh napivprovidnkiv. Avtoref. dys... doktora tekhn. nauk: 05.27.06/ Nats. un−t "Lviv. politekhn.", − Lviv, 2005, −30 p. | |
| dc.relation.referencesen | 3. Datchyk dlia vymiriuvannia temperatury i mahnitnoho polia/S.S.Varshava, E.F.Venher, A.V.Prokhorovych, S.I.Yushchuk. Patent Ukrainy na vynakhid No 33148A. 2001. Bull.No 1. | |
| dc.relation.referencesen | 4. Dubinko S.V. Datchiki mahnitnoho polia na osnove epitaksialnykh plenok ferrit−hranatov//Uchenye zapiski Simferopolskoho hos. un−ta. − Simferopol, 1997. − No 4(43). −P.30−40. | |
| dc.relation.referencesen | 5. Jakubowska M., Pitt K. Influence of contacts and firing process on properties of thick film resistors on alumina and dielectrics// Journ. Mater. Scince: Materials in Electronics, 1995. –No 6. –P.75–78. | |
| dc.relation.referencesen | 6. Anderson V., Martines D., Medzhid A.H. Elektricheskie kharakteristiki kontaktov iz zolota i akvadaha, nanesennye na poverkhnost monokristallov zakisi nikelia// Pribory dlia nauchnykh issledovanii. –1970. –No 12, P.28–30. | |
| dc.relation.referencesen | 7. Varshava S.S., Liakh N.S., Stasiuk N.M. Neliniini efekty v tochkovykh kontaktakh metal–kremnii, metal–kremnii–hermanii// Fizyka i khimiia tverdoho tila. –2001. –V.2, No 4. –P.727–734 | |
| dc.citation.journalTitle | Вимірювальна техніка та метрологія | |
| dc.citation.issue | 66 | |
| dc.citation.spage | 51 | |
| dc.citation.epage | 56 | |
| dc.coverage.placename | Львів | |
| dc.coverage.placename | Lviv | |
| dc.subject.udc | 539.23 | |
| dc.subject.udc | 537.311.3.082.7 | |
| Appears in Collections: | Вимірювальна техніка та метрологія. – 2006. – Випуск 66
|
