Skip navigation
DSpace logo
  1. Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
  2. Електронний архів Науково-технічної бібліотеки
  3. Вісники та науково-технічні збірники, журнали
  4. Радіоелектроніка та телекомунікації
  5. Радіоелектроніка та телекомунікації. – 2002. – №440

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/47903
Title: Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку
Authors: Павлиш, В. А.
Данчишин, І. В.
Корж, Р. О.
Вишняков, Д. В.
Affiliation: Національний університет "Львівська політехніка"
Bibliographic description (Ukraine): Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку / В. А. Павлиш, І. В. Данчишин, Р. О. Корж, Д. В. Вишняков // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації. — С. 33–39.
Bibliographic description (International): Defektnist struktur elektronnykh zasobiv ta problema adekvatnosti yii rozrakhunku / V. A. Pavlysh, I. V. Danchyshyn, R. O. Korzh, D. V. Vyshniakov // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2002. — No 440 : Radioelektronika ta telekomunikatsii. — P. 33–39.
Is part of: Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації, 2002
Journal/Collection: Вісник Національного університету “Львівська політехніка”
Issue: 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації
Issue Date: 27-Mar-2001
Publisher: Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
Place of the edition/event: Львів
Lviv
UDC: 621.396.6.019.3
621.38.049.77
Number of pages: 7
Page range: 33-39
Start page: 33
End page: 39
Abstract: Запропоновано модель розрахунку виходу придатних кристалів інтегральних схем із врахуванням дво- та тривимірної дефектності мікроструктур електронних засобів.
Integrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47903
Copyright owner: © Національний університет “Львівська політехніка”, 2002
© Павлиш В. А., Данчишин І. В., Корж Р. О., Вишняков Д. В., 2002
References (Ukraine): 1. Доморацький I.A., Павлиш В.А. Комплексна автоматизація виробництва РЕА (ідеї, моделі, проекти).- K : НМК ВО, 1992. 135 с.
2. Adler Е. The evolution o f IBM CMOS DRAM Technology // IBM 1 of Res. and Develop .- IBM CMOS Technol- 1995 - V.39- Ns 1/2.
3. Павлиш В., Данчишт L, Корж P., Вишняков Д. Діагностика поверхневої дефектності напів-провідникових пластині/ Вісн. ".Радіоелектроніка та телекомунікації2001-Ns428.- С.228-233.
4. Корж Р.О., Данчишин І.В., Заставний Є.Л. Методика оцінки дефектності структур мікроелектронних РЕЗ //Электроника и связь.- 1999. -Ns6.-T.2- С. 81-85. J. Tong Lee-Ing, Wei-1 Lee, Chao-Ton Su Using a Neural Network-Based Approach to Predict the Wafer Yield in Integrated Circuit Manufacturing // IEEE Transactions on Components, Pack., Manufact. Technology - Oct, 1997 - V.20, Ns4-P.288-294.
References (International): 1. Domoratskyi I.A., Pavlysh V.A. Kompleksna avtomatyzatsiia vyrobnytstva REA (idei, modeli, proekty), K : NMK VO, 1992. 135 p.
2. Adler E. The evolution o f IBM CMOS DRAM Technology, IBM 1 of Res. and Develop , IBM CMOS Technol- 1995 - V.39- Ns 1/2.
3. Pavlysh V., Danchysht L, Korzh P., Vyshniakov D. Diahnostyka poverkhnevoi defektnosti napiv-providnykovykh plastyni/ Visn. ".Radioelektronika ta telekomunikatsii2001-Ns428, P.228-233.
4. Korzh R.O., Danchyshyn I.V., Zastavnyi Ye.L. Metodyka otsinky defektnosti struktur mikroelektronnykh REZ //Elektronyka y sviaz, 1999. -Ns6.-T.2- P. 81-85. J. Tong Lee-Ing, Wei-1 Lee, Chao-Ton Su Using a Neural Network-Based Approach to Predict the Wafer Yield in Integrated Circuit Manufacturing, IEEE Transactions on Components, Pack., Manufact. Technology - Oct, 1997 - V.20, Ns4-P.288-294.
Content type: Article
Appears in Collections:Радіоелектроніка та телекомунікації. – 2002. – №440

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2002n440_Pavlish_V_A-Defektnist_struktur_elektronnykh_33-39.pdf119.87 kBAdobe PDFView/Open
2002n440_Pavlish_V_A-Defektnist_struktur_elektronnykh_33-39__COVER.png3.32 MBimage/pngView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.