Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/47513
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМокрий, О. М.
dc.contributor.authorMokryy, O. M.
dc.date.accessioned2020-03-20T07:36:31Z-
dc.date.available2020-03-20T07:36:31Z-
dc.date.created2005-03-01
dc.date.issued2005-03-01
dc.identifier.citationМокрий О. М. Вимірювання товщини тонкого шару рідини на поверхні твердого тіла фотоакустичним методом (числове моделювання) / О. М. Мокрий // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 532 : Електроніка. — С. 164–169.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47513-
dc.description.abstractРозглянуто безконтактний фотоакустичний метод вимірювання товщини тонкого шару рідини на поверхні твердого тіла. Здійснено числове моделювання збудження акустичних хвиль за допомогою лазерного імпульсу та поширення їх в шарі рідини. Отримана залежність часових характеристик акустичного поля від фізичних властивостей та товщини шару рідини. Показана можливість визначити товщину шару рідини за часом між двома акустичними імпульсами. Проаналізовано внесок різних чинників у точність визначення товщини шару рідини. Область товщин, для яких розглядалось застосування методу, становить 30–500 мкм.
dc.description.abstractPhotoacoustical noncontact method for thickness measurement of thin liquid film on solid state surface has been considered. Excitation of acoustic waves by laser pulse and propagation them in liquid film has been modelled by numeric methods. The dependence of acoustic fields properties on physical properties and thickness of liquid film has been obtained. The possibility to determine the thickness of a liquid film using the time between two ultrasonic pulses has been shown. The influence of the different factors on accuracy of determination of the liquid film thickness has been analysed. The method was considered for thicknesses in the region of 30–500 μm.
dc.format.extent164-169
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 532 : Електроніка, 2005
dc.titleВимірювання товщини тонкого шару рідини на поверхні твердого тіла фотоакустичним методом (числове моделювання)
dc.title.alternativeThickness measurement thin film of a liquid on solid state surface by photoacoustical method (numerical modelling)
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2005
dc.rights.holder© Мокрий О. М., 2005
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.format.pages6
dc.identifier.citationenMokryy O. M. Thickness measurement thin film of a liquid on solid state surface by photoacoustical method (numerical modelling) / O. M. Mokryy // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 532 : Elektronika. — P. 164–169.
dc.relation.references1. Wagner J.W Optical Detection of Ultrasound // Physical Acoustics: Ultrasonic MeasurementMethods, v.XIX(R.N.Thurston ed.),1990. – P.201–265.
dc.relation.references2. Chenni B., Moreau A., Pou liquen J. // Prociding WCU 2003, Paris, September 7–10, 2003. – P.1435–1438.
dc.relation.references3. Zhang Fei-fei, Wei-hua Xu, Zhang Shu-yi, Coufal Hang // Anal. Scien.. –2001. – 17. –P.208–s211.
dc.relation.references4. Zhonghua Shen, Baiqiang Xu, Xiaowu Ni,Jian Lu // J. Phys.D:Appl.Phys. – 2004. – 37. – P.2364–2370.
dc.relation.references5. Лямшев Л.М. Лазерное термооптическое возбуждение звука. – М., 1989.
dc.relation.references6. Шендеров Е.Л. Волновые задачи гидроакустики. – Л., 1972.
dc.relation.references7. Самарский А.А. /Теория разностных схем. – М., 1983.
dc.relation.referencesen1. Wagner J.W Optical Detection of Ultrasound, Physical Acoustics: Ultrasonic MeasurementMethods, v.XIX(R.N.Thurston ed.),1990, P.201–265.
dc.relation.referencesen2. Chenni B., Moreau A., Pou liquen J., Prociding WCU 2003, Paris, September 7–10, 2003, P.1435–1438.
dc.relation.referencesen3. Zhang Fei-fei, Wei-hua Xu, Zhang Shu-yi, Coufal Hang, Anal. Scien.. –2001, 17. –P.208–s211.
dc.relation.referencesen4. Zhonghua Shen, Baiqiang Xu, Xiaowu Ni,Jian Lu, J. Phys.D:Appl.Phys, 2004, 37, P.2364–2370.
dc.relation.referencesen5. Liamshev L.M. Lazernoe termoopticheskoe vozbuzhdenie zvuka, M., 1989.
dc.relation.referencesen6. Shenderov E.L. Volnovye zadachi hidroakustiki, L., 1972.
dc.relation.referencesen7. Samarskii A.A. /Teoriia raznostnykh skhem, M., 1983.
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.issue532 : Електроніка
dc.citation.spage164
dc.citation.epage169
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.subject.udc539.12.04
dc.subject.udc53.082.4
Appears in Collections:Електроніка. – 2005. – №532

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2005n532_Mokryy_O_M-Thickness_measurement_164-169.pdf1.74 MBAdobe PDFView/Open
2005n532_Mokryy_O_M-Thickness_measurement_164-169__COVER.png388.36 kBimage/pngView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.