Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/47502
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЯковина, В. С.
dc.contributor.authorЖидачевський, Я. А.
dc.contributor.authorМихайлик, В. Б.
dc.contributor.authorСольський, І. М.
dc.contributor.authorСугак, Д. Ю.
dc.contributor.authorYakovyna, V. S.
dc.contributor.authorZhydachevskii, Ya. A.
dc.contributor.authorMikhailik, V. B.
dc.contributor.authorSolskii, I. M.
dc.contributor.authorSugak, D. Yu.
dc.date.accessioned2020-03-20T07:36:23Z-
dc.date.available2020-03-20T07:36:23Z-
dc.date.created2005-03-01
dc.date.issued2005-03-01
dc.identifier.citationВплив зовнішніх факторів на люмінесцентні властивості вольфрамату кальцію / В. С. Яковина, Я. А. Жидачевський, В. Б. Михайлик, І. М. Сольський, Д. Ю. Сугак // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 532 : Електроніка. — С. 105–111.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47502-
dc.description.abstractЗ використанням синхротронного випромінювання досліджено плив дефектів у аніонній підґратці на параметри люмінесценції вольфрамату кальцію. Отримано спектри емісії та спектри збудження високо- та низькоенергетичної смуг люмінесценції. Форма спектрів збудження в районі 6–8 еВ може бути ідентифікована як O2p –W5d електронні переходи всередині комплексу WO4. Експериментально підтверджено, що міжвузловинний кисень та азот в аніонній підґратці утворюють рівні поблизу стелі валентної зони, і, отже, приводять до стабілізації дірок, які формують автолокалізовані екситони і випромінювальний розпад яких вважається відповідальним за природу сцинтиляцій у вольфраматах.
dc.description.abstractThe studies of influence of anion defects on luminescent parameters of calcium tungstate crystals using synchrotron irradiation have been carried out. Emission and excitation spectra of both low and high energy emission bands have been collected. The shape of excitation spectra in the region 6–8 eV could be identified as O2p –W5d charge transfer transitions within the WO4 complex. It has been confirmed experimentally that interstitial oxygen and nitrogen incorporated into anion sites form the energy levels near the top of valence band, thus the stabilization of self-trapped holes takes place.
dc.format.extent105-111
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 532 : Електроніка, 2005
dc.titleВплив зовнішніх факторів на люмінесцентні властивості вольфрамату кальцію
dc.title.alternativeInfluence of external actions on calcium tungstate luminescent properties
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2005
dc.rights.holder© Яковина В. С., Жидачевський Я. А., Михайлик В. Б., Сольський І. М., Сугак Д. Ю., 2005
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.affiliationОксфордський університет
dc.contributor.affiliationІнститут матеріалів, НВП “Карат”
dc.format.pages7
dc.identifier.citationenInfluence of external actions on calcium tungstate luminescent properties / V. S. Yakovyna, Ya. A. Zhydachevskii, V. B. Mikhailik, I. M. Solskii, D. Yu. Sugak // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 532 : Elektronika. — P. 105–111.
dc.relation.references1. Annenkov A.A., Korzhik M.V., Lecoq P.// NIM A. – Vol. 490 (2002). – P. 30–50.
dc.relation.references2. Nikl M. // Phys. Stat. Sol. (a). – Vol. 178 (2000). – P. 595–620.
dc.relation.references3. Qi Z., Shi C., Zhou D. et al. // Physica B. – Vol. 307 (2001). – P. 45–50.
dc.relation.references4. Liu F.X., Zhang X.Y., Zhao J.M. et al. // NIM A. – Vol. 426 (1999). – P. 464–468.
dc.relation.references5. Han B., Feng X., Hu G.et al. // J.Appl.Phys. – Vol. 86 (1999). – P. 3571–3575.
dc.relation.references6. Nikl M., Nitsch K., Hybler J. et al. // Phys.Stat.Sol. (b). – Vol. 196 (1996), P. K7–K10.
dc.relation.references7. Yakovyna V., Matkovskii A., Sugak D. et al. // Radiation Measurements. – Vol. 38 (2004). – P. 401–404.
dc.relation.references8. Groening J.A., Blasse G. // J.Sol.St.Chem. – Vol. 32 (1980). – P. 9–20.
dc.relation.references9. Van Loo W.// Phys.Stat.Sol. (a). – Vol. 28 (1975). – P. 227–235.
dc.relation.references10. Abraham Y.B., Holzwarth N.A.W., Williams R.T., Matthews G.E. // Phys.Rev. B. – Vol. 64 (2001). – P. 245109.
dc.relation.references11. Kamenskikh I.A., Kolobanov V.N., Mikhailin V.V. et al. // NIM A. – Vol. 470 (2001). – P. 270–273.
dc.relation.references12. Williams R.T., Zhang Y.C., Abraham Y., Holzwarth N.A.W. // invited paper presented by R.T.Williams at the SCINT99 conference in Moscow, Aug. 1999.
dc.relation.references13. Carlos W.E., Glaser E.R., Look D.C. // Physica B. – Vol. 308-310 (2001). – P. 976–979.
dc.relation.referencesen1. Annenkov A.A., Korzhik M.V., Lecoq P.// NIM A, Vol. 490 (2002), P. 30–50.
dc.relation.referencesen2. Nikl M., Phys. Stat. Sol. (a), Vol. 178 (2000), P. 595–620.
dc.relation.referencesen3. Qi Z., Shi C., Zhou D. et al., Physica B, Vol. 307 (2001), P. 45–50.
dc.relation.referencesen4. Liu F.X., Zhang X.Y., Zhao J.M. et al., NIM A, Vol. 426 (1999), P. 464–468.
dc.relation.referencesen5. Han B., Feng X., Hu G.et al., J.Appl.Phys, Vol. 86 (1999), P. 3571–3575.
dc.relation.referencesen6. Nikl M., Nitsch K., Hybler J. et al., Phys.Stat.Sol. (b), Vol. 196 (1996), P. K7–K10.
dc.relation.referencesen7. Yakovyna V., Matkovskii A., Sugak D. et al., Radiation Measurements, Vol. 38 (2004), P. 401–404.
dc.relation.referencesen8. Groening J.A., Blasse G., J.Sol.St.Chem, Vol. 32 (1980), P. 9–20.
dc.relation.referencesen9. Van Loo W.// Phys.Stat.Sol. (a), Vol. 28 (1975), P. 227–235.
dc.relation.referencesen10. Abraham Y.B., Holzwarth N.A.W., Williams R.T., Matthews G.E., Phys.Rev. B, Vol. 64 (2001), P. 245109.
dc.relation.referencesen11. Kamenskikh I.A., Kolobanov V.N., Mikhailin V.V. et al., NIM A, Vol. 470 (2001), P. 270–273.
dc.relation.referencesen12. Williams R.T., Zhang Y.C., Abraham Y., Holzwarth N.A.W., invited paper presented by R.T.Williams at the SCINT99 conference in Moscow, Aug. 1999.
dc.relation.referencesen13. Carlos W.E., Glaser E.R., Look D.C., Physica B, Vol. 308-310 (2001), P. 976–979.
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.issue532 : Електроніка
dc.citation.spage105
dc.citation.epage111
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.subject.udc535.343.2
Appears in Collections:Електроніка. – 2005. – №532

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2005n532_Yakovyna_V_S-Influence_of_external_105-111.pdf2.91 MBAdobe PDFView/Open
2005n532_Yakovyna_V_S-Influence_of_external_105-111__COVER.png428.54 kBimage/pngView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.