DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Яковина, В. С. | |
dc.contributor.author | Жидачевський, Я. А. | |
dc.contributor.author | Михайлик, В. Б. | |
dc.contributor.author | Сольський, І. М. | |
dc.contributor.author | Сугак, Д. Ю. | |
dc.contributor.author | Yakovyna, V. S. | |
dc.contributor.author | Zhydachevskii, Ya. A. | |
dc.contributor.author | Mikhailik, V. B. | |
dc.contributor.author | Solskii, I. M. | |
dc.contributor.author | Sugak, D. Yu. | |
dc.date.accessioned | 2020-03-20T07:36:23Z | - |
dc.date.available | 2020-03-20T07:36:23Z | - |
dc.date.created | 2005-03-01 | |
dc.date.issued | 2005-03-01 | |
dc.identifier.citation | Вплив зовнішніх факторів на люмінесцентні властивості вольфрамату кальцію / В. С. Яковина, Я. А. Жидачевський, В. Б. Михайлик, І. М. Сольський, Д. Ю. Сугак // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 532 : Електроніка. — С. 105–111. | |
dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47502 | - |
dc.description.abstract | З використанням синхротронного випромінювання досліджено плив дефектів у
аніонній підґратці на параметри люмінесценції вольфрамату кальцію. Отримано
спектри емісії та спектри збудження високо- та низькоенергетичної смуг люмінесценції.
Форма спектрів збудження в районі 6–8 еВ може бути ідентифікована як O2p –W5d
електронні переходи всередині комплексу WO4. Експериментально підтверджено, що
міжвузловинний кисень та азот в аніонній підґратці утворюють рівні поблизу стелі
валентної зони, і, отже, приводять до стабілізації дірок, які формують автолокалізовані
екситони і випромінювальний розпад яких вважається відповідальним за природу
сцинтиляцій у вольфраматах. | |
dc.description.abstract | The studies of influence of anion defects on luminescent parameters of calcium tungstate
crystals using synchrotron irradiation have been carried out. Emission and excitation spectra
of both low and high energy emission bands have been collected. The shape of excitation
spectra in the region 6–8 eV could be identified as O2p –W5d charge transfer transitions
within the WO4 complex. It has been confirmed experimentally that interstitial oxygen and
nitrogen incorporated into anion sites form the energy levels near the top of valence band, thus
the stabilization of self-trapped holes takes place. | |
dc.format.extent | 105-111 | |
dc.language.iso | uk | |
dc.publisher | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” | |
dc.relation.ispartof | Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 532 : Електроніка, 2005 | |
dc.title | Вплив зовнішніх факторів на люмінесцентні властивості вольфрамату кальцію | |
dc.title.alternative | Influence of external actions on calcium tungstate luminescent properties | |
dc.type | Article | |
dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2005 | |
dc.rights.holder | © Яковина В. С., Жидачевський Я. А., Михайлик В. Б., Сольський І. М., Сугак Д. Ю., 2005 | |
dc.contributor.affiliation | Національний університет “Львівська політехніка” | |
dc.contributor.affiliation | Оксфордський університет | |
dc.contributor.affiliation | Інститут матеріалів, НВП “Карат” | |
dc.format.pages | 7 | |
dc.identifier.citationen | Influence of external actions on calcium tungstate luminescent properties / V. S. Yakovyna, Ya. A. Zhydachevskii, V. B. Mikhailik, I. M. Solskii, D. Yu. Sugak // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 532 : Elektronika. — P. 105–111. | |
dc.relation.references | 1. Annenkov A.A., Korzhik M.V., Lecoq P.// NIM A. – Vol. 490 (2002). – P. 30–50. | |
dc.relation.references | 2. Nikl M. // Phys. Stat. Sol. (a). – Vol. 178 (2000). – P. 595–620. | |
dc.relation.references | 3. Qi Z., Shi C., Zhou D. et al. // Physica B. – Vol. 307 (2001). – P. 45–50. | |
dc.relation.references | 4. Liu F.X., Zhang X.Y., Zhao J.M. et al. // NIM A. – Vol. 426 (1999). – P. 464–468. | |
dc.relation.references | 5. Han B., Feng X., Hu G.et al. // J.Appl.Phys. – Vol. 86 (1999). – P. 3571–3575. | |
dc.relation.references | 6. Nikl M., Nitsch K., Hybler J. et al. // Phys.Stat.Sol. (b). – Vol. 196 (1996), P. K7–K10. | |
dc.relation.references | 7. Yakovyna V., Matkovskii A., Sugak D. et al. // Radiation Measurements. – Vol. 38 (2004). – P. 401–404. | |
dc.relation.references | 8. Groening J.A., Blasse G. // J.Sol.St.Chem. – Vol. 32 (1980). – P. 9–20. | |
dc.relation.references | 9. Van Loo W.// Phys.Stat.Sol. (a). – Vol. 28 (1975). – P. 227–235. | |
dc.relation.references | 10. Abraham Y.B., Holzwarth N.A.W., Williams R.T., Matthews G.E. // Phys.Rev. B. – Vol. 64 (2001). – P. 245109. | |
dc.relation.references | 11. Kamenskikh I.A., Kolobanov V.N., Mikhailin V.V. et al. // NIM A. – Vol. 470 (2001). – P. 270–273. | |
dc.relation.references | 12. Williams R.T., Zhang Y.C., Abraham Y., Holzwarth N.A.W. // invited paper presented by R.T.Williams at the SCINT99 conference in Moscow, Aug. 1999. | |
dc.relation.references | 13. Carlos W.E., Glaser E.R., Look D.C. // Physica B. – Vol. 308-310 (2001). – P. 976–979. | |
dc.relation.referencesen | 1. Annenkov A.A., Korzhik M.V., Lecoq P.// NIM A, Vol. 490 (2002), P. 30–50. | |
dc.relation.referencesen | 2. Nikl M., Phys. Stat. Sol. (a), Vol. 178 (2000), P. 595–620. | |
dc.relation.referencesen | 3. Qi Z., Shi C., Zhou D. et al., Physica B, Vol. 307 (2001), P. 45–50. | |
dc.relation.referencesen | 4. Liu F.X., Zhang X.Y., Zhao J.M. et al., NIM A, Vol. 426 (1999), P. 464–468. | |
dc.relation.referencesen | 5. Han B., Feng X., Hu G.et al., J.Appl.Phys, Vol. 86 (1999), P. 3571–3575. | |
dc.relation.referencesen | 6. Nikl M., Nitsch K., Hybler J. et al., Phys.Stat.Sol. (b), Vol. 196 (1996), P. K7–K10. | |
dc.relation.referencesen | 7. Yakovyna V., Matkovskii A., Sugak D. et al., Radiation Measurements, Vol. 38 (2004), P. 401–404. | |
dc.relation.referencesen | 8. Groening J.A., Blasse G., J.Sol.St.Chem, Vol. 32 (1980), P. 9–20. | |
dc.relation.referencesen | 9. Van Loo W.// Phys.Stat.Sol. (a), Vol. 28 (1975), P. 227–235. | |
dc.relation.referencesen | 10. Abraham Y.B., Holzwarth N.A.W., Williams R.T., Matthews G.E., Phys.Rev. B, Vol. 64 (2001), P. 245109. | |
dc.relation.referencesen | 11. Kamenskikh I.A., Kolobanov V.N., Mikhailin V.V. et al., NIM A, Vol. 470 (2001), P. 270–273. | |
dc.relation.referencesen | 12. Williams R.T., Zhang Y.C., Abraham Y., Holzwarth N.A.W., invited paper presented by R.T.Williams at the SCINT99 conference in Moscow, Aug. 1999. | |
dc.relation.referencesen | 13. Carlos W.E., Glaser E.R., Look D.C., Physica B, Vol. 308-310 (2001), P. 976–979. | |
dc.citation.journalTitle | Вісник Національного університету “Львівська політехніка” | |
dc.citation.issue | 532 : Електроніка | |
dc.citation.spage | 105 | |
dc.citation.epage | 111 | |
dc.coverage.placename | Львів | |
dc.coverage.placename | Lviv | |
dc.subject.udc | 535.343.2 | |
Appears in Collections: | Електроніка. – 2005. – №532
|