https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/47253| Title: | Моделі надійності розгалужених симетричних систем |
| Authors: | Сидор, А. Р. |
| Affiliation: | Національний університет “Львівська політехніка” |
| Bibliographic description (Ukraine): | Сидор А. Р. Моделі надійності розгалужених симетричних систем / А. Р. Сидор // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 548 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика. — С. 112–115. |
| Bibliographic description (International): | Sidor A. R. Modeli nadiinosti rozghaluzhenykh symetrychnykh system / A. R. Sidor // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 548 : Kompiuterni systemy proektuvannia. Teoriia i praktyka. — P. 112–115. |
| Is part of: | Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 548 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика, 2005 |
| Journal/Collection: | Вісник Національного університету “Львівська політехніка” |
| Issue: | 548 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика |
| Issue Date: | 1-Mar-2005 |
| Publisher: | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” |
| Place of the edition/event: | Львів Lviv |
| UDC: | 62-523.8 |
| Number of pages: | 4 |
| Page range: | 112-115 |
| Start page: | 112 |
| End page: | 115 |
| Abstract: | Досліджено основні характеристики надійності невідновлюваних симетричних сис-
тем, розгалужених до третього рівня, зі старіючими вихідними елементами. Розроблено
моделі ймовірності відмови, частоти відмов та інтенсивності відмов для випадку, коли
надійність старіючих вихідних елементів описується розподілом Вейбулла. Main reliability characteristics of unrestorable symmetric systems ramified to level 3 with ageing output elements are examined in this paper. Models of the failure probability, the failure frequency and the failure rate are worked out in the case when the lifetime of ageing output elements is circumscribed by the Weibull distribution. |
| URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47253 |
| Copyright owner: | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2005 © Сидор А. Р., 2005 |
| References (Ukraine): | 1. ДСТУ 2860-94. Надійність техніки. Терміни та визначення. – Введ. 28.12.94. – К.: Держ- стандарт України, 1995. – 92 с. 2. ДСТУ 2862-94. Методи розрахунку показників надійності. Загальні вимоги. – Введ. 8.12.94. – К.: Держстандарт України, 1995. – 40 с. 3. Марунчак Д., Сидор А. Надійність несиметричних розгалужених систем зі старіючими вихідними елементами // Матер. 5-ї Міжнар. наук.-техн. конф. “Досвід розробки і застосування САПР в мікроелектроніці”. – Львів: 1999. – С. 26–28. |
| References (International): | 1. DSTU 2860-94. Nadiinist tekhniky. Terminy ta vyznachennia, Vved. 28.12.94, K., Derzh- standart Ukrainy, 1995, 92 p. 2. DSTU 2862-94. Metody rozrakhunku pokaznykiv nadiinosti. Zahalni vymohy, Vved. 8.12.94, K., Derzhstandart Ukrainy, 1995, 40 p. 3. Marunchak D., Sydor A. Nadiinist nesymetrychnykh rozghaluzhenykh system zi stariiuchymy vykhidnymy elementamy, Mater. 5-yi Mizhnar. nauk.-tekhn. konf. "Dosvid rozrobky i zastosuvannia SAPR v mikroelektronitsi", Lviv: 1999, P. 26–28. |
| Content type: | Article |
| Appears in Collections: | Комп'ютерні системи проектування теорія і практика. – 2005. – №548 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 2005n548_Sidor_A_R-Modeli_nadiinosti_rozghaluzhenykh_112-115.pdf | 1.23 MB | Adobe PDF | View/Open | |
| 2005n548_Sidor_A_R-Modeli_nadiinosti_rozghaluzhenykh_112-115__COVER.png | 498.32 kB | image/png | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.