Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/47253
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСидор, А. Р.
dc.date.accessioned2020-03-12T10:25:54Z-
dc.date.available2020-03-12T10:25:54Z-
dc.date.created2005-03-01
dc.date.issued2005-03-01
dc.identifier.citationСидор А. Р. Моделі надійності розгалужених симетричних систем / А. Р. Сидор // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 548 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика. — С. 112–115.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47253-
dc.description.abstractДосліджено основні характеристики надійності невідновлюваних симетричних сис- тем, розгалужених до третього рівня, зі старіючими вихідними елементами. Розроблено моделі ймовірності відмови, частоти відмов та інтенсивності відмов для випадку, коли надійність старіючих вихідних елементів описується розподілом Вейбулла.
dc.description.abstractMain reliability characteristics of unrestorable symmetric systems ramified to level 3 with ageing output elements are examined in this paper. Models of the failure probability, the failure frequency and the failure rate are worked out in the case when the lifetime of ageing output elements is circumscribed by the Weibull distribution.
dc.format.extent112-115
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 548 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика, 2005
dc.titleМоделі надійності розгалужених симетричних систем
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2005
dc.rights.holder© Сидор А. Р., 2005
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.format.pages4
dc.identifier.citationenSidor A. R. Modeli nadiinosti rozghaluzhenykh symetrychnykh system / A. R. Sidor // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 548 : Kompiuterni systemy proektuvannia. Teoriia i praktyka. — P. 112–115.
dc.relation.references1. ДСТУ 2860-94. Надійність техніки. Терміни та визначення. – Введ. 28.12.94. – К.: Держ- стандарт України, 1995. – 92 с.
dc.relation.references2. ДСТУ 2862-94. Методи розрахунку показників надійності. Загальні вимоги. – Введ. 8.12.94. – К.: Держстандарт України, 1995. – 40 с.
dc.relation.references3. Марунчак Д., Сидор А. Надійність несиметричних розгалужених систем зі старіючими вихідними елементами // Матер. 5-ї Міжнар. наук.-техн. конф. “Досвід розробки і застосування САПР в мікроелектроніці”. – Львів: 1999. – С. 26–28.
dc.relation.referencesen1. DSTU 2860-94. Nadiinist tekhniky. Terminy ta vyznachennia, Vved. 28.12.94, K., Derzh- standart Ukrainy, 1995, 92 p.
dc.relation.referencesen2. DSTU 2862-94. Metody rozrakhunku pokaznykiv nadiinosti. Zahalni vymohy, Vved. 8.12.94, K., Derzhstandart Ukrainy, 1995, 40 p.
dc.relation.referencesen3. Marunchak D., Sydor A. Nadiinist nesymetrychnykh rozghaluzhenykh system zi stariiuchymy vykhidnymy elementamy, Mater. 5-yi Mizhnar. nauk.-tekhn. konf. "Dosvid rozrobky i zastosuvannia SAPR v mikroelektronitsi", Lviv: 1999, P. 26–28.
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.issue548 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика
dc.citation.spage112
dc.citation.epage115
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.subject.udc62-523.8
Appears in Collections:Комп'ютерні системи проектування теорія і практика. – 2005. – №548

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2005n548_Sidor_A_R-Modeli_nadiinosti_rozghaluzhenykh_112-115.pdf1.23 MBAdobe PDFView/Open
2005n548_Sidor_A_R-Modeli_nadiinosti_rozghaluzhenykh_112-115__COVER.png498.32 kBimage/pngView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.