DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Яцишин, С. П. | |
dc.contributor.author | Гамула, П. Р. | |
dc.contributor.author | Мідик, А. В. | |
dc.contributor.author | Ван, Чунчжі | |
dc.contributor.author | Yatsyshyn, Svyatoslav | |
dc.contributor.author | Hamula, Pavlo | |
dc.contributor.author | Midyk, Andriy | |
dc.contributor.author | Wang, Chunzhi | |
dc.date.accessioned | 2019-11-13T10:09:11Z | - |
dc.date.available | 2019-11-13T10:09:11Z | - |
dc.date.created | 2018-02-26 | |
dc.date.issued | 2018-02-26 | |
dc.identifier.citation | On accuracy of contactless temperature measurement limited by unknown emissivity factor / Svyatoslav Yatsyshyn, Pavlo Hamula, Andriy Midyk, Chunzhi Wang // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2018. — Том 79. — № 4. — С. 30–33. | |
dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/45566 | - |
dc.description.abstract | У роботі вивчаються методи безконтактного вимірювання температури, точність яких обмежується
багатьма чинниками, головним з яких вважають коефіцієнт чорноти контрольованої поверхні об’єкта. Саме незнання
цього фактора визначає методичну складову похибки вимірювання. Вона притаманна не лише пірометричним засобам,
але й тепловізійним, які саме тому належать до якісних засобів вимірювання температури. Вони є основними приладами
для проведення енергетичного аудиту будівель та споруд, стандартизації та сертифікації теплотехнічних матеріалів.
Завдяки дослідженню розробляється метод визначення коефіцієнта випромінювальної здатності матеріалу, що
уможливлює високоточне вимірювання теплових потоків. А це, своєю чергою, дає змогу характеризувати з високою
достовірністю теплоізоляційні, будівельні матеріали і створити підстави для встановлення придатності будівельних
конструкцій та споруд на відповідність державним і міжнародним стандартам. Крім того, завдяки виконаній роботі можна
змінити конструкцію технічних пірометрів, а саме пірометрів випромінювання, у сфері високоточних вимірювань
температури у промислових та лабораторних умовах, оскільки визначення коефіцієнта випромінювальної здатності
сприяє точному вимірюванню теплових потоків. Результату досягають за рахунок визначення згаданого коефіцієнта речовини за допомогою повторних вимірювань
тієї самої поверхні тіла з цільовою зміною температури чутливого елемента засобу вимірювання, використовуючи незалежне
джерело тепла. Це дає змогу підвищити точність вимірювань теплового потоку, випромінюваного будь-яким тілом. | |
dc.description.abstract | The major error of temperature measurements of different objects is due to uncertainty of their emissivity factor
value. And vice versa, for correct determination of a true temperature, using conventional temperature means (pyrometers, thermal
image cameras), one has to know in advance the emissivity factor of the studied object’s surface or better to set its value in place
immediately before a measurement. The latter is proposed by authors to significantly increase the accuracy of temperature
measurement. Namely, it needs to change previously the temperature of the sensitive element of a measuring mean and carry out
measurements. The similar procedure is performed under the unchanged temperature condition. The difference between
temperature readings of the same point of the studied surface gives the possibility to compute an emissivity factor. It improves the
measurement accuracy. Derived equations allow fulfilling the specified operation at different temperature differences of the sensitive element. | |
dc.format.extent | 30-33 | |
dc.language.iso | en | |
dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | |
dc.relation.ispartof | Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник, 4 (79), 2018 | |
dc.relation.ispartof | Measuring equipment and metrology : scientific journal, 4 (79), 2018 | |
dc.relation.uri | http://wwweng.lbl.gov/~dw/projects/DW4229_LHC_detector_analysis/calculations/emissivity2.pdf | |
dc.subject | вимірювання температури | |
dc.subject | коефіцієнт чорноти випромінюваної поверхні | |
dc.subject | точність вимірювання | |
dc.subject | пірометр | |
dc.subject | тепловізор | |
dc.subject | Temperature measurement | |
dc.subject | Emissivity factor | |
dc.subject | Measurement accuracy | |
dc.subject | Temperature measurement | |
dc.subject | Pyrometer | |
dc.subject | Thermal image camera | |
dc.title | On accuracy of contactless temperature measurement limited by unknown emissivity factor | |
dc.title.alternative | Про похибку безконтактного вимірювання температури, зумовлену невідомим значенням коефіцієнта чорноти | |
dc.type | Article | |
dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2018 | |
dc.contributor.affiliation | Національний університет “Львівська політехніка” | |
dc.contributor.affiliation | Lviv Polytechnic National University | |
dc.contributor.affiliation | Hubei University of Technology | |
dc.format.pages | 4 | |
dc.identifier.citationen | On accuracy of contactless temperature measurement limited by unknown emissivity factor / Svyatoslav Yatsyshyn, Pavlo Hamula, Andriy Midyk, Chunzhi Wang // Measuring equipment and metrology : scientific journal. — Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2018. — Vol 79. — No 4. — P. 30–33. | |
dc.relation.references | 1. S. Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, L. Bunyak, Handbook of Thermometry and Nanothermometry, IFSA Publishing, Barcelona, Spane, 2015. | |
dc.relation.references | 2. B. Stadnyk, P. Skoropad, Features of determining the factor of radiation ability of materials at low temperatures. Measuring Equipment and Metrology, no. 68, p. 165–168, 2008. | |
dc.relation.references | 3. Mikron Instrument Company, Inc., Table of Emissivity of Various Surfaces for Infrared Thermometry, 10 p. http://wwweng.lbl.gov/~dw/projects/DW4229_LHC_detector_analysis/calculations/emissivity2.pdf | |
dc.relation.references | 4. S. Yatsyshyn et al. Method for determining the emissivity factor of materials. Pat.116684 UA, 25.04.2018, bul.8, 2018 (in Ukrainian). | |
dc.relation.referencesen | 1. S. Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, L. Bunyak, Handbook of Thermometry and Nanothermometry, IFSA Publishing, Barcelona, Spane, 2015. | |
dc.relation.referencesen | 2. B. Stadnyk, P. Skoropad, Features of determining the factor of radiation ability of materials at low temperatures. Measuring Equipment and Metrology, no. 68, p. 165–168, 2008. | |
dc.relation.referencesen | 3. Mikron Instrument Company, Inc., Table of Emissivity of Various Surfaces for Infrared Thermometry, 10 p. http://wwweng.lbl.gov/~dw/projects/DW4229_LHC_detector_analysis/calculations/emissivity2.pdf | |
dc.relation.referencesen | 4. S. Yatsyshyn et al. Method for determining the emissivity factor of materials. Pat.116684 UA, 25.04.2018, bul.8, 2018 (in Ukrainian). | |
dc.citation.journalTitle | Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник | |
dc.citation.volume | 79 | |
dc.citation.issue | 4 | |
dc.citation.spage | 30 | |
dc.citation.epage | 33 | |
dc.coverage.placename | Львів | |
Appears in Collections: | Вимірювальна техніка та метрологія. – 2018. – Випуск 79, №4
|