Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/45566
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЯцишин, С. П.
dc.contributor.authorГамула, П. Р.
dc.contributor.authorМідик, А. В.
dc.contributor.authorВан, Чунчжі
dc.contributor.authorYatsyshyn, Svyatoslav
dc.contributor.authorHamula, Pavlo
dc.contributor.authorMidyk, Andriy
dc.contributor.authorWang, Chunzhi
dc.date.accessioned2019-11-13T10:09:11Z-
dc.date.available2019-11-13T10:09:11Z-
dc.date.created2018-02-26
dc.date.issued2018-02-26
dc.identifier.citationOn accuracy of contactless temperature measurement limited by unknown emissivity factor / Svyatoslav Yatsyshyn, Pavlo Hamula, Andriy Midyk, Chunzhi Wang // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2018. — Том 79. — № 4. — С. 30–33.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/45566-
dc.description.abstractУ роботі вивчаються методи безконтактного вимірювання температури, точність яких обмежується багатьма чинниками, головним з яких вважають коефіцієнт чорноти контрольованої поверхні об’єкта. Саме незнання цього фактора визначає методичну складову похибки вимірювання. Вона притаманна не лише пірометричним засобам, але й тепловізійним, які саме тому належать до якісних засобів вимірювання температури. Вони є основними приладами для проведення енергетичного аудиту будівель та споруд, стандартизації та сертифікації теплотехнічних матеріалів. Завдяки дослідженню розробляється метод визначення коефіцієнта випромінювальної здатності матеріалу, що уможливлює високоточне вимірювання теплових потоків. А це, своєю чергою, дає змогу характеризувати з високою достовірністю теплоізоляційні, будівельні матеріали і створити підстави для встановлення придатності будівельних конструкцій та споруд на відповідність державним і міжнародним стандартам. Крім того, завдяки виконаній роботі можна змінити конструкцію технічних пірометрів, а саме пірометрів випромінювання, у сфері високоточних вимірювань температури у промислових та лабораторних умовах, оскільки визначення коефіцієнта випромінювальної здатності сприяє точному вимірюванню теплових потоків. Результату досягають за рахунок визначення згаданого коефіцієнта речовини за допомогою повторних вимірювань тієї самої поверхні тіла з цільовою зміною температури чутливого елемента засобу вимірювання, використовуючи незалежне джерело тепла. Це дає змогу підвищити точність вимірювань теплового потоку, випромінюваного будь-яким тілом.
dc.description.abstractThe major error of temperature measurements of different objects is due to uncertainty of their emissivity factor value. And vice versa, for correct determination of a true temperature, using conventional temperature means (pyrometers, thermal image cameras), one has to know in advance the emissivity factor of the studied object’s surface or better to set its value in place immediately before a measurement. The latter is proposed by authors to significantly increase the accuracy of temperature measurement. Namely, it needs to change previously the temperature of the sensitive element of a measuring mean and carry out measurements. The similar procedure is performed under the unchanged temperature condition. The difference between temperature readings of the same point of the studied surface gives the possibility to compute an emissivity factor. It improves the measurement accuracy. Derived equations allow fulfilling the specified operation at different temperature differences of the sensitive element.
dc.format.extent30-33
dc.language.isoen
dc.publisherВидавництво Львівської політехніки
dc.relation.ispartofВимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник, 4 (79), 2018
dc.relation.ispartofMeasuring equipment and metrology : scientific journal, 4 (79), 2018
dc.relation.urihttp://wwweng.lbl.gov/~dw/projects/DW4229_LHC_detector_analysis/calculations/emissivity2.pdf
dc.subjectвимірювання температури
dc.subjectкоефіцієнт чорноти випромінюваної поверхні
dc.subjectточність вимірювання
dc.subjectпірометр
dc.subjectтепловізор
dc.subjectTemperature measurement
dc.subjectEmissivity factor
dc.subjectMeasurement accuracy
dc.subjectTemperature measurement
dc.subjectPyrometer
dc.subjectThermal image camera
dc.titleOn accuracy of contactless temperature measurement limited by unknown emissivity factor
dc.title.alternativeПро похибку безконтактного вимірювання температури, зумовлену невідомим значенням коефіцієнта чорноти
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2018
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.affiliationLviv Polytechnic National University
dc.contributor.affiliationHubei University of Technology
dc.format.pages4
dc.identifier.citationenOn accuracy of contactless temperature measurement limited by unknown emissivity factor / Svyatoslav Yatsyshyn, Pavlo Hamula, Andriy Midyk, Chunzhi Wang // Measuring equipment and metrology : scientific journal. — Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2018. — Vol 79. — No 4. — P. 30–33.
dc.relation.references1. S. Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, L. Bunyak, Handbook of Thermometry and Nanothermometry, IFSA Publishing, Barcelona, Spane, 2015.
dc.relation.references2. B. Stadnyk, P. Skoropad, Features of determining the factor of radiation ability of materials at low temperatures. Measuring Equipment and Metrology, no. 68, p. 165–168, 2008.
dc.relation.references3. Mikron Instrument Company, Inc., Table of Emissivity of Various Surfaces for Infrared Thermometry, 10 p. http://wwweng.lbl.gov/~dw/projects/DW4229_LHC_detector_analysis/calculations/emissivity2.pdf
dc.relation.references4. S. Yatsyshyn et al. Method for determining the emissivity factor of materials. Pat.116684 UA, 25.04.2018, bul.8, 2018 (in Ukrainian).
dc.relation.referencesen1. S. Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, L. Bunyak, Handbook of Thermometry and Nanothermometry, IFSA Publishing, Barcelona, Spane, 2015.
dc.relation.referencesen2. B. Stadnyk, P. Skoropad, Features of determining the factor of radiation ability of materials at low temperatures. Measuring Equipment and Metrology, no. 68, p. 165–168, 2008.
dc.relation.referencesen3. Mikron Instrument Company, Inc., Table of Emissivity of Various Surfaces for Infrared Thermometry, 10 p. http://wwweng.lbl.gov/~dw/projects/DW4229_LHC_detector_analysis/calculations/emissivity2.pdf
dc.relation.referencesen4. S. Yatsyshyn et al. Method for determining the emissivity factor of materials. Pat.116684 UA, 25.04.2018, bul.8, 2018 (in Ukrainian).
dc.citation.journalTitleВимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник
dc.citation.volume79
dc.citation.issue4
dc.citation.spage30
dc.citation.epage33
dc.coverage.placenameЛьвів
Appears in Collections:Вимірювальна техніка та метрологія. – 2018. – Випуск 79, №4

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2018v79n4_Yatsyshyn_S-On_accuracy_of_contactless_30-33.pdf265.32 kBAdobe PDFView/Open
2018v79n4_Yatsyshyn_S-On_accuracy_of_contactless_30-33__COVER.png1.28 MBimage/pngView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.