Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/42460
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДорожовець, Михайло-
dc.contributor.authorКовальчик, Адам-
dc.date.accessioned2018-08-14T08:00:57Z-
dc.date.available2018-08-14T08:00:57Z-
dc.date.issued2002-
dc.identifier.citationДорожовець М. Аналіз сумісного впливу методичної та інструментальної похибок томографії провідності / М. Дорожовець, А. Ковальчик // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. – Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2002. – Випуск 59. – С. 115–117. – Бібліографія: 7 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/42460-
dc.description.abstractДосліджена залежність сумарної похибки відтворення провідності від кількості апроксимаційних елементів та рівня інструментальних похибок вимірювання електродних величин Показано, що для заданого рівня інструментальної похибки існує оптимальна кількість апроксимаційних елементів, для якої досягається мінімум сумарної похибки. Исследована зависимость суммарной погрешности восстановления проводимости от количества аппроксимирующих элементов и уровня инструментальных погрешностей измерения электродных величин Показано, что для заданного уровня инструментальных погрешностей существует оптимальное количество аппроксимирующих элементов, при котором получается минимум суммарной погрешности. In the article the dependence of the resultant error conductivity reconstruction from the quantity of approximating elements and the level of the instrument errors in the measurement of electrode values is investigated. It is shown that for the assigned level of the instrument errors there is an optimum of approximating elements quantity, for which the value of resultant error becomes minimum.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету "Львівська політехніка"uk_UA
dc.titleАналіз сумісного впливу методичної та інструментальної похибок томографії провідностіuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dc.rights.holder© Михайло Дорожовець, Адам Ковальчик, 2002uk_UA
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”uk_UA
dc.contributor.affiliationЖешувська політехніка, Польщаuk_UA
dc.coverage.countryUAuk_UA
dc.format.pages115–117-
dc.relation.referencesІ. Дорожоеець М.М. Математичні проблеми реконструкції образів в технічній томографії // Вимі¬рювальна техніка та метрологія. Львів. 1998. Віт.53. С. 113-121. 2. Дорожоеець М., Ковальчик А. Дослідження вимірювальних схем в томографії провідності // Технічні вісті. Львів. 2001/1(121,2(13), С. 65-70. 3. Dorożowiec М, Kowalczyk A. Badania schematów dualnych pomiaru sygnałów czujników wieloelektrodowych w tomografii impedancyjnej. X1 sympozjum Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych. Materiały sympozjum. Krynica, 17-21 września, 2001. S.113 - - тильних похибок на точність відтворення просторового // метрологія. Львів, - 2002. - Вип.56. 5. Дорожоеець М.М. - // Вісник ДУ 'Львівська політехніка", 2000р. N389. С. 9-17. 6. Dorożowiec М. Analiza błędu instrumentalnego przy odtwarzaniu konduktywności metodą tomograficzną. Materiały XXXII Międzyuczelnianą Konferencji Metrologów. MKM'2000. Rzeszów-Jawor. 2000. T.1. S.251-256. 7. Dorozhovets M., Kowalczyk A., Stadnyk B. Measurement of a temperature non¬uniformity using resistance tomography method. Proceedings of 8th International Symposium on Temperature and Thermal Measurements in Industry and Science: Tempmeko-2001. 19-21 June 2001, Berlin, Germany. 2002, Volume 2, P.969 - 973.uk_UA
dc.citation.journalTitleВимірювальна техніка та метрологія-
dc.coverage.placenameЛьвівuk_UA
dc.subject.udc621.317uk_UA
Appears in Collections:Вимірювальна техніка та метрологія. – 2002. – Випуск 59

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
22_115-117.pdf148.04 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.