Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/40166
Title: Inelastic Defect Characteristic Internal Friction in SiO2, GeSi and Anisotropy Automated System “KERN-DP”
Authors: Onanko, A. P.
Prodayvoda, G. T.
Onanko, Y. A.
Shabatura, A. V.
Onischenko, A. N.
Affiliation: Kyiv National University, Kyiv, Ukraine
Bibliographic description (Ukraine): Inelastic Defect Characteristic Internal Friction in SiO2, GeSi and Anisotropy Automated System “KERN-DP” / A. P. Onanko, G. T. Prodayvoda, Y. A. Onanko, A. V. Shabatura, A. N. Onischenko // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 55. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
Bibliographic description (International): Inelastic Defect Characteristic Internal Friction in SiO2, GeSi and Anisotropy Automated System “KERN-DP” / A. P. Onanko, G. T. Prodayvoda, Y. A. Onanko, A. V. Shabatura, A. N. Onischenko // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 55. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
Is part of: Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
Conference/Event: Міжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
Journal/Collection: Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
Issue Date: 29-May-2017
Place of the edition/event: Львів
Lviv
Temporal Coverage: 29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
Number of pages: 1
Page range: 55
Start page: 55
End page: 55
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40166
Copyright owner: © Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
Content type: Conference Abstract
Appears in Collections:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
OMEE_2017_Onanko_A_P-Inelastic_Defect_Characteristic_55.pdf109.44 kBAdobe PDFView/Open
OMEE_2017_Onanko_A_P-Inelastic_Defect_Characteristic_55__COVER.png1.17 MBimage/pngView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.