https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/40166
Title: | Inelastic Defect Characteristic Internal Friction in SiO2, GeSi and Anisotropy Automated System “KERN-DP” |
Authors: | Onanko, A. P. Prodayvoda, G. T. Onanko, Y. A. Shabatura, A. V. Onischenko, A. N. |
Affiliation: | Kyiv National University, Kyiv, Ukraine |
Bibliographic description (Ukraine): | Inelastic Defect Characteristic Internal Friction in SiO2, GeSi and Anisotropy Automated System “KERN-DP” / A. P. Onanko, G. T. Prodayvoda, Y. A. Onanko, A. V. Shabatura, A. N. Onischenko // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 55. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects). |
Bibliographic description (International): | Inelastic Defect Characteristic Internal Friction in SiO2, GeSi and Anisotropy Automated System “KERN-DP” / A. P. Onanko, G. T. Prodayvoda, Y. A. Onanko, A. V. Shabatura, A. N. Onischenko // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 55. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects). |
Is part of: | Оксидні матеріали
електронної техніки –
отримання, властивості,
застосування : збірник
тез міжнародної наукової конференції, 2017 Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017 |
Conference/Event: | Міжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування" |
Journal/Collection: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції |
Issue Date: | 29-May-2017 |
Place of the edition/event: | Львів Lviv |
Temporal Coverage: | 29 травня–2 червня, 2017
Львів, Україна May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine |
Number of pages: | 1 |
Page range: | 55 |
Start page: | 55 |
End page: | 55 |
URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40166 |
Copyright owner: | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2017 |
Content type: | Conference Abstract |
Appears in Collections: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р. |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
OMEE_2017_Onanko_A_P-Inelastic_Defect_Characteristic_55.pdf | 109.44 kB | Adobe PDF | View/Open | |
OMEE_2017_Onanko_A_P-Inelastic_Defect_Characteristic_55__COVER.png | 1.17 MB | image/png | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.