https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/40039
Title: | The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect |
Authors: | Syrotyuk, S. V. Shved, V. M. Klysko, Yu. V. |
Affiliation: | Lviv Polytechnic National University, 12 S. Bandery Str., 79013 Lviv, Ukraine |
Bibliographic description (Ukraine): | Syrotyuk S. V. The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect / S. V. Syrotyuk, V. M. Shved, Yu. V. Klysko // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 154. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation). |
Bibliographic description (International): | Syrotyuk S. V. The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect / S. V. Syrotyuk, V. M. Shved, Yu. V. Klysko // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 154. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation). |
Is part of: | Оксидні матеріали
електронної техніки –
отримання, властивості,
застосування : збірник
тез міжнародної наукової конференції, 2017 Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017 |
Conference/Event: | Міжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування" |
Journal/Collection: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції |
Issue Date: | 29-May-2017 |
Place of the edition/event: | Львів Lviv |
Temporal Coverage: | 29 травня–2 червня, 2017
Львів, Україна May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine |
Number of pages: | 1 |
Page range: | 154 |
Start page: | 154 |
End page: | 154 |
URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40039 |
Copyright owner: | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2017 |
References (International): | [1] G. Pilania, Vinit Sharma, J. Mater. Sci. 48 (2013) 7635–7641. [2] T. Nishimatsu, N. Terakubo, H. Mizuseki, Y. Kawazoe, D.A. Pawlak, K. Shimamura, N. Ichinose, T.Fukuda, Jpn. J. Appl. Phys. 42 (2003) 5082. [3] T. Fukuda, K. Shimamura, A. Yoshikawa, E.G. Villora, Opto. Electron. Rev. 9 (2001) 109. [4] A.V. Gektin, M.I. Krasovitskaya, N.V. Shiran, Radiat. Meas. 29 (1998) 337. [5] X. Gonze, B. Amadon, P.-M. Anglade, J.-M. Beuken et al., Comput. Phys. Commun. 180 (2009) 2582. |
Content type: | Conference Abstract |
Appears in Collections: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р. |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
OMEE_2017_Syrotyuk_S_V-The_Electronic_Properties_154.pdf | 78.74 kB | Adobe PDF | View/Open | |
OMEE_2017_Syrotyuk_S_V-The_Electronic_Properties_154__COVER.png | 993.05 kB | image/png | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.