Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/40039
Title: The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect
Authors: Syrotyuk, S. V.
Shved, V. M.
Klysko, Yu. V.
Affiliation: Lviv Polytechnic National University, 12 S. Bandery Str., 79013 Lviv, Ukraine
Bibliographic description (Ukraine): Syrotyuk S. V. The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect / S. V. Syrotyuk, V. M. Shved, Yu. V. Klysko // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 154. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation).
Bibliographic description (International): Syrotyuk S. V. The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect / S. V. Syrotyuk, V. M. Shved, Yu. V. Klysko // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 154. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation).
Is part of: Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
Conference/Event: Міжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
Journal/Collection: Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
Issue Date: 29-May-2017
Place of the edition/event: Львів
Lviv
Temporal Coverage: 29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
Number of pages: 1
Page range: 154
Start page: 154
End page: 154
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40039
Copyright owner: © Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
References (International): [1] G. Pilania, Vinit Sharma, J. Mater. Sci. 48 (2013) 7635–7641.
[2] T. Nishimatsu, N. Terakubo, H. Mizuseki, Y. Kawazoe, D.A. Pawlak, K. Shimamura, N. Ichinose, T.Fukuda, Jpn. J. Appl. Phys. 42 (2003) 5082.
[3] T. Fukuda, K. Shimamura, A. Yoshikawa, E.G. Villora, Opto. Electron. Rev. 9 (2001) 109.
[4] A.V. Gektin, M.I. Krasovitskaya, N.V. Shiran, Radiat. Meas. 29 (1998) 337.
[5] X. Gonze, B. Amadon, P.-M. Anglade, J.-M. Beuken et al., Comput. Phys. Commun. 180 (2009) 2582.
Content type: Conference Abstract
Appears in Collections:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
OMEE_2017_Syrotyuk_S_V-The_Electronic_Properties_154.pdf78.74 kBAdobe PDFView/Open
OMEE_2017_Syrotyuk_S_V-The_Electronic_Properties_154__COVER.png993.05 kBimage/pngView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.