| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Syrotyuk, S. V. | |
| dc.contributor.author | Shved, V. M. | |
| dc.contributor.author | Klysko, Yu. V. | |
| dc.coverage.temporal | 29 травня–2 червня, 2017
Львів, Україна | |
| dc.coverage.temporal | May 29–June 2, 2017
Lviv, Ukraine | |
| dc.date.accessioned | 2018-04-02T13:40:02Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-02T13:40:02Z | - |
| dc.date.created | 2017-05-29 | |
| dc.date.issued | 2017-05-29 | |
| dc.identifier.citation | Syrotyuk S. V. The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect / S. V. Syrotyuk, V. M. Shved, Yu. V. Klysko // Oxide Materials
for Electronic Engineering –
fabrication, properties
and applications : book
of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017
Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 154. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation). | |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40039 | - |
| dc.format.extent | 154 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.relation.ispartof | Оксидні матеріали
електронної техніки –
отримання, властивості,
застосування : збірник
тез міжнародної наукової конференції, 2017 | |
| dc.relation.ispartof | Oxide Materials
for Electronic Engineering –
fabrication, properties
and applications : book
of abstracts international conference, 2017 | |
| dc.title | The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect | |
| dc.type | Conference Abstract | |
| dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2017 | |
| dc.contributor.affiliation | Lviv Polytechnic National University, 12 S. Bandery Str., 79013 Lviv, Ukraine | |
| dc.format.pages | 1 | |
| dc.identifier.citationen | Syrotyuk S. V. The Electronic Properties of the Cubic KMgF3 Perovskite under Pressure Effect / S. V. Syrotyuk, V. M. Shved, Yu. V. Klysko // Oxide Materials
for Electronic Engineering –
fabrication, properties
and applications : book
of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017
Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 154. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation). | |
| dc.relation.referencesen | [1] G. Pilania, Vinit Sharma, J. Mater. Sci. 48 (2013) 7635–7641. | |
| dc.relation.referencesen | [2] T. Nishimatsu, N. Terakubo, H. Mizuseki, Y. Kawazoe, D.A. Pawlak, K. Shimamura, N. Ichinose, T.Fukuda, Jpn. J. Appl. Phys. 42 (2003) 5082. | |
| dc.relation.referencesen | [3] T. Fukuda, K. Shimamura, A. Yoshikawa, E.G. Villora, Opto. Electron. Rev. 9 (2001) 109. | |
| dc.relation.referencesen | [4] A.V. Gektin, M.I. Krasovitskaya, N.V. Shiran, Radiat. Meas. 29 (1998) 337. | |
| dc.relation.referencesen | [5] X. Gonze, B. Amadon, P.-M. Anglade, J.-M. Beuken et al., Comput. Phys. Commun. 180 (2009) 2582. | |
| dc.citation.conference | Міжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали
електронної техніки –
отримання, властивості,
застосування" | |
| dc.citation.journalTitle | Оксидні матеріали
електронної техніки –
отримання, властивості,
застосування : збірник
тез міжнародної наукової конференції | |
| dc.citation.spage | 154 | |
| dc.citation.epage | 154 | |
| dc.coverage.placename | Львів | |
| dc.coverage.placename | Lviv | |
| Appears in Collections: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.
|
