https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/22444| Title: | Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring |
| Authors: | Bobalo, Yuriy Nedostup, Leonid Kiselychnyk, Myroslav Melen, Myhaylo |
| Bibliographic description (Ukraine): | Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring / Yuriy Bobalo, Leonid Nedostup, Myroslav Kiselychnyk, Myhaylo Melen // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 53. – Bibliography: 3 titles. |
| Issue Date: | 2011 |
| Publisher: | Видавництво Львівської політехніки |
| Keywords: | production of electronic devices modeling defectiveness reliability |
| Abstract: | This work is devoted to modeling and optimization of radio-electronic devices production processes to ensure the desired reliability. |
| URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/22444 |
| Content type: | Article |
| Appears in Collections: | Обчислювальні проблеми електротехніки (CPEE’2011) – 2011 р. |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 45-Bobalo-53.pdf | 196.56 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.