| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Bobalo, Yuriy | - |
| dc.contributor.author | Nedostup, Leonid | - |
| dc.contributor.author | Kiselychnyk, Myroslav | - |
| dc.contributor.author | Melen, Myhaylo | - |
| dc.date.accessioned | 2013-12-24T14:57:37Z | - |
| dc.date.available | 2013-12-24T14:57:37Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.citation | Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring / Yuriy Bobalo, Leonid Nedostup, Myroslav Kiselychnyk, Myhaylo Melen // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 53. – Bibliography: 3 titles. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/22444 | - |
| dc.description.abstract | This work is devoted to modeling and optimization of radio-electronic devices production processes to ensure the desired reliability. | uk_UA |
| dc.language.iso | en | uk_UA |
| dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | uk_UA |
| dc.subject | production of electronic devices | uk_UA |
| dc.subject | modeling | uk_UA |
| dc.subject | defectiveness | uk_UA |
| dc.subject | reliability | uk_UA |
| dc.title | Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| Appears in Collections: | Обчислювальні проблеми електротехніки (CPEE’2011) – 2011 р.
|
