https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/15271
Title: | Point defects and diffusion in oxides |
Authors: | Shi, J. Becker, K. - D. |
Bibliographic description (Ukraine): | Shi J. Point defects and diffusion in oxides / J. Shi, K. - D. Becker // Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (ОМЕЕ – 2012) : збірник матеріалів міжнародної наукової конференції, 3-7 вересня 2012 року, Львів, Україна / Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 151–152. – Bibliography: 4 titles. |
Issue Date: | 2012 |
Publisher: | Видавництво Львівської політехніки |
Keywords: | point defects diffusion optical spectroscopy N-doped TiO2-d thin film lithium niobate |
Abstract: | Electronic and ionic defects are unavoidable elements of structural disorder in oxide materials resulting from nonstoichiometry or impurity/doping ions. Many point defects involving electrons or transition metal ions give rise to optical absorption, providing a probe to study defect chemistry and transport properties in these materials. We present the application of optical in-situ spectroscopy to the investigation of defects and defect-related processes at elevated temperatures in N-doped titania films and Lideficient lithium niobate. |
URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/15271 |
Content type: | Article |
Appears in Collections: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2012). – 2012 р. |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
66_151_152_OMEE_2012.pdf Restricted Access | 91.84 kB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.