Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/15149
Title: Some properties of thin film structures on the base of ZnO obtained by MOCVD method
Authors: Roshchina, N. M.
Smertenko, P. S.
Stepanov, V. G.
Zavyalova, L. V.
Lytvyn, O. S.
Bibliographic description (Ukraine): Some properties of thin film structures on the base of ZnO obtained by MOCVD method / N. M. Roshchina, P. S. Smertenko, V. G. Stepanov, L. V. Zavyalova, O. S. Lytvyn // Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (ОМЕЕ – 2012) : збірник матеріалів міжнародної наукової конференції, 3-7 вересня 2012 року, Львів, Україна / Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 59–60. – Bibliography: 6 titles.
Issue Date: 2012
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: ZnO/Si heterojunction
metaloorganic chemical vapour deposition
current–voltage characteristics
Abstract: This paper reports on the ZnO film structures obtained by MOCVD method on Si substrates. The phase composition, structure and morphology of ZnO films as well as electrophysical properties of ZnO/Si heterojunction on their base were investigated. The possible charge flow mechanisms in ZnO/Si heterojunction are discussed.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/15149
Content type: Article
Appears in Collections:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2012). – 2012 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
22_59_60_OMEE_2012.pdf
  Restricted Access
132.7 kBAdobe PDFView/Open Request a copy
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.