Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/14381
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorPolitansky, Leonid-
dc.contributor.authorLesinsky, Valentin-
dc.date.accessioned2012-09-17T12:28:01Z-
dc.date.available2012-09-17T12:28:01Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationPolitansky L. Eexpress method of threshold voltage control of DMOS transistors in the process of their manufacturing / Leonid Politansky, Valentin Lesinsky // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 448. – Bibliography: 2 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/14381-
dc.description.abstractThere is shown the use of test structure for DMOS-structure threshold voltage control and correction.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectDMOS transistorsuk_UA
dc.subjectthreshold voltageuk_UA
dc.titleEexpress method of threshold voltage control of DMOS transistors in the process of their manufacturinguk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET’2012). – 2012 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
318.pdf74.03 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.