Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/9866
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЛопатинський, І. Є.-
dc.contributor.authorСтахіра, П. Й.-
dc.contributor.authorСтахіра, Р. Й.-
dc.contributor.authorТокарєв, І. С.-
dc.date.accessioned2011-06-16T09:13:56Z-
dc.date.available2011-06-16T09:13:56Z-
dc.date.issued2000-
dc.identifier.citationМетод дослідження тонкої структури зон з використанням п’єзофоторезистивного ефекту / І. Є. Лопатинський, П. Й. Стахіра, Р. Й. Стахіра, І. С. Токарєв // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2000. – № 393 : Елементи теорії та прилади твердої електроніки. – С. 104–108. – Бібліографія: 2 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/9866-
dc.description.abstractРозглядається теорія явища п’єзофотопровідності, яке дає інформацію про енергетичну залежність густини станів у напівпровідникових кристалах. Описано методику експериментального визначення спектрів п’єзофотопровідності. The theory of the tensiophotoconductivity phenomenon, which gives information about energy dependence of state density in semiconductor crystals, is considered. The method of experimental determination of tensiophotoconductivity spectra was described.uk_UA
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Державного університету “Львівська політехніка”uk_UA
dc.titleМетод дослідження тонкої структури зон з використанням п’єзофоторезистивного ефектуuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2000. – №393

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
21.pdf1.32 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.