Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/7977
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКрайовський, Р.-
dc.contributor.authorРомака, В.-
dc.date.accessioned2011-03-15T10:49:27Z-
dc.date.available2011-03-15T10:49:27Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationКрайовський Р. Прогнозування термометричних характеристик Zr1-xНоxNiSn на основі результатів розрахунків розподілу електронної густини / Р. Крайовський, В. Ромака // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2010. – № 665 : Автоматика, вимірювання та керування. – С. 69–74. – Бібліографія: 5 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/7977-
dc.description.abstractДосліджено вплив акцепторної домішки Но на зміну кристалічної та електронної структур інтерметалічного напівпровідника n-ZrNiSn у концентраційному діапазоні х(Но) = 0 ÷ 0,50. Зроблені висновки про характер поведінки рівня Фермі (εF ) Zr1-xНоxNiSn, механізми керування положенням εF та особливості функцій перетворення резистивних та термоелектричних термоелементів.uk_UA
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”uk_UA
dc.titleПрогнозування термометричних характеристик Zr1-xНоxNiSn на основі результатів розрахунків розподілу електронної густиниuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Автоматика, вимірювання та керування. – 2010. – №665

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
11.pdf301.23 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.