Tolerance design and electronics elements’ selection under external influences

Shilo, Galina; Kovalenko, Daria; Gaponenko, Mykola

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Shilo, Galina	-
dc.contributor.author	Kovalenko, Daria	-
dc.contributor.author	Gaponenko, Mykola	-
dc.date.accessioned	2011-02-14T14:07:48Z	-
dc.date.available	2011-02-14T14:07:48Z	-
dc.date.issued	2010	-
dc.identifier.citation	Shilo G. Tolerance design and electronics elements’ selection under external influences / Galina Shilo, Daria Kovalenko, Mykola Gaponenko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 367. – Bibliography: 3 titles.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/7383	-
dc.description.abstract	Peculiarities of tolerance region forming are being considered taking into account external influences under normal distribution law. Algorithms of tolerance design under given parameters and external factors have been submitted. Relations for elements selection providing costs minimization were taken. Element selection methods are suggested subject to specialties of electronics elements.	uk_UA
dc.language.iso	en	uk_UA
dc.publisher	Видавництво Львівської політехніки	uk_UA
dc.subject	ellipsoidal tolerance region	uk_UA
dc.subject	operability region	uk_UA
dc.subject	external influences	uk_UA
dc.subject	iteration algorithms	uk_UA
dc.title	Tolerance design and electronics elements’ selection under external influences	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
Appears in Collections:	Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET'2010). – 2010 р.

putin IS MURDERER