Modeling of Internal mechanical tension’s influence on electric strength of M-D-M-structures under electric breakdown

Matviykiv, Myhaylo; Petrushka, Alina

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Matviykiv, Myhaylo	-
dc.contributor.author	Petrushka, Alina	-
dc.date.accessioned	2011-02-10T07:24:57Z	-
dc.date.available	2011-02-10T07:24:57Z	-
dc.date.issued	2010	-
dc.identifier.citation	Matviykiv M. Modeling of internal mechanical tension’s influence on electric strength of M-D-M-structures under electric breakdown / Myhaylo Matviykiv, Alina Petrushka // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 348. – Bibliography: 3 titles.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/7373	-
dc.description.abstract	Deformation changes of electric strength of M-D-Mstructures under electric, ionization and electrochemical breakdown, caused by internal mechanical tensions, are modeling in the article. Determined mathematical models which take into account main mechanisms of internal mechanical tension’s influence on M-D-M-structure’s electric strength are represented	uk_UA
dc.language.iso	en	uk_UA
dc.publisher	Видавництво Львівської політехніки	uk_UA
dc.subject	internal mechanical tensions	uk_UA
dc.subject	deformation	uk_UA
dc.subject	film	uk_UA
dc.subject	electric strength	uk_UA
dc.subject	electric breakdown	uk_UA
dc.title	Modeling of Internal mechanical tension’s influence on electric strength of M-D-M-structures under electric breakdown	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
Appears in Collections:	Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET'2010). – 2010 р.

putin IS MURDERER