System of semantic classes for test’s generation

Melnyk, Andriy; Pasichnyk, Roman

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Melnyk, Andriy	-
dc.contributor.author	Pasichnyk, Roman	-
dc.date.accessioned	2011-01-21T13:00:23Z	-
dc.date.available	2011-01-21T13:00:23Z	-
dc.date.issued	2010	-
dc.identifier.citation	Melnyk А. System of semantic classes for test’s generation / Andriy Melnyk, Roman Pasichnyk // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 206. – Bibliography: 2 titles.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/7119	-
dc.description.abstract	In this paper the approaches to test’s generation is conducted, the method of test’s generation in system of semantic classes is offered.	uk_UA
dc.language.iso	en	uk_UA
dc.publisher	Видавництво Львівської політехніки	uk_UA
dc.subject	educational process	uk_UA
dc.subject	system of semantic classes	uk_UA
dc.subject	method of generating tests	uk_UA
dc.title	System of semantic classes for test’s generation	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
Appears in Collections:	Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET'2010). – 2010 р.

putin IS MURDERER