Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/5761
Title: Наслідування дефектами плівок термічного SiO2 дислокаційної структури підкладки
Authors: Логуш, О. І.
Bibliographic description (Ukraine): Логуш О. І. Наслідування дефектами плівок термічного SiO2 дислокаційної структури підкладки / О. І. Логуш // Дванадцята відкрита науково-технічна конференція професорсько-викладацького складу Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету “Львівська політехніка” з проблем електроніки : тези доповідей, 7–9 квітня 2009 року / Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2009. – С. 42.
Issue Date: 2009
Publisher: Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/5761
Content type: Article
Appears in Collections:Дванадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки. – 2009 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
38.pdf164.91 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.