Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/5760
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДемкович, І. В.-
dc.contributor.authorПетровська, Г. А.-
dc.contributor.authorОлешкевич, В. П.-
dc.contributor.authorБобицький, Я. В.-
dc.date.accessioned2010-06-23T11:06:10Z-
dc.date.available2010-06-23T11:06:10Z-
dc.date.issued2009-
dc.identifier.citationФототепловий метод визначення параметрів тонких плівок / І. В. Демкович, Г. А. Петровська, В. П. Олешкевич, Я. В. Бобицький // Дванадцята відкрита науково-технічна конференція професорсько-викладацького складу Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету “Львівська політехніка” з проблем електроніки : тези доповідей, 7–9 квітня 2009 року / Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2009. – С. 25. – Бібліографія: 2 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/5760-
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”uk_UA
dc.titleФототепловий метод визначення параметрів тонких плівокuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Дванадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки. – 2009 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
21.pdf164.39 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.