https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/5557
Title: | Remanent resistance changes at pcmo-metal interfaces: electrical induced polaron ordering |
Authors: | Meyer, B.-U. Scherff, M. Hoffmann, J. Whu, L. Zhu, Y. Jooss, Ch. |
Bibliographic description (Ukraine): | Remanent resistance changes at pcmo-metal interfaces: electrical induced polaron ordering / B.-U. Meyer, M. Scherff, J. Hoffmann, L. Whu, Y. Zhu, Ch. Jooss // Oxide materials for electronic engineering – fabrication, properties and application OMEE-2009 : international scientific workshop, June 22–26, 2009, Lviv, Ukraine : book of abstracts / Lviv Polytechnic National University. – Lviv, 2009. – P. 147. |
Issue Date: | 2009 |
Publisher: | Видавництво національного університету „Львівська політехніка” |
Keywords: | electric pulse induced resistance changes (EPIR) RRAM-technologies |
URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/5557 |
Content type: | article |
Appears in Collections: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування. – 2009 р. |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.