https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/47882
Title: | Концепція метрологічної надійності: метод підвищення точності сертифікаційних випробувань виробів електронної техніки |
Authors: | Брюнін, С. Г. Водотовка, В. І. |
Affiliation: | Київський національний університет технологій та дизайну Національний технічний університет, України (КПІ) |
Bibliographic description (Ukraine): | Брюнін С. Г. Концепція метрологічної надійності: метод підвищення точності сертифікаційних випробувань виробів електронної техніки / С. Г. Брюнін, В. І. Водотовка // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації. — С. 182–183. |
Bibliographic description (International): | Briunin S. H. Kontseptsiia metrolohichnoi nadiinosti: metod pidvyshchennia tochnosti sertyfikatsiinykh vyprobuvan vyrobiv elektronnoi tekhniky / S. H. Briunin, V. I. Vodotovka // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2002. — No 440 : Radioelektronika ta telekomunikatsii. — P. 182–183. |
Is part of: | Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації, 2002 |
Journal/Collection: | Вісник Національного університету “Львівська політехніка” |
Issue: | 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації |
Issue Date: | 27-Mar-2001 |
Publisher: | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” |
Place of the edition/event: | Львів Lviv |
UDC: | 658.562 |
Number of pages: | 2 |
Page range: | 182-183 |
Start page: | 182 |
End page: | 183 |
Abstract: | У рамках концепції підвищення метрологічної надійності сертифікаційних
випробувань виробів електронної техніки пропонується спосіб підвищення
точності вимірювання їх параметрів за рахунок корекції інструментальних
похибок вимірювальних приладів. Within the framework of the concept of a heightening metrology of a reliability of certifiée! trials of products of an électron technology the way of a heightening of an exactitude of measurement of their parameters is offered at the expense of a correction of tooi errors of measuring instruments. |
URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47882 |
Copyright owner: | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2002 © Брюнін С. Г., Водотовка В.І., 2002. |
References (Ukraine): | 1. Попов М. И. и др. Основы сертификации изделий электронной техники. - М. 1988. 2. Дунаев Б. Б. Точность измерений при контроле качества. - К. 1981. 3. Рабинович С. Г. Погрешности измерений. - Л. 1978. |
References (International): | 1. Popov M. I. and other Osnovy sertifikatsii izdelii elektronnoi tekhniki, M. 1988. 2. Dunaev B. B. Tochnost izmerenii pri kontrole kachestva, K. 1981. 3. Rabinovich S. H. Pohreshnosti izmerenii, L. 1978. |
Content type: | Article |
Appears in Collections: | Радіоелектроніка та телекомунікації. – 2002. – №440 |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
2002n440_Briunin_S_H-Kontseptsiia_metrolohichnoi_182-183.pdf | 143.75 kB | Adobe PDF | View/Open | |
2002n440_Briunin_S_H-Kontseptsiia_metrolohichnoi_182-183__COVER.png | 3.36 MB | image/png | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.