| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Недоступ, Л. А. | |
| dc.contributor.author | Бобало, Ю. Я. | |
| dc.contributor.author | Кіселичник, М. Д. | |
| dc.contributor.author | Лазько, О. В. | |
| dc.contributor.author | Васьків, Г. М. | |
| dc.date.accessioned | 2020-03-23T07:48:39Z | - |
| dc.date.available | 2020-03-23T07:48:39Z | - |
| dc.date.created | 2004-02-18 | |
| dc.date.issued | 2004-02-18 | |
| dc.identifier.citation | Програмне забезпечення комплексної оптимізації виробничих систем / Л. А. Недоступ, Ю. Я. Бобало, М. Д. Кіселичник, О. В. Лазько, Г. М. Васьків // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2004. — № 522 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика. — С. 62–67. | |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47557 | - |
| dc.description.abstract | Описується програмний комплекс “ДРЕЙФ”, призначений для вирішення завдань комплексної оптимізацГї технологічних процесів виготовлення радіоелектронних пристроїв за критерієм мінімуму сумарних витрат на забезпечення їх якості та надійності. | |
| dc.description.abstract | The “DREYF” software designed for the complex optimization of electronic devices production process problem solution by criterion of total costs minimum is described. | |
| dc.format.extent | 62-67 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” | |
| dc.relation.ispartof | Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 522 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика, 2004 | |
| dc.title | Програмне забезпечення комплексної оптимізації виробничих систем | |
| dc.type | Article | |
| dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2004 | |
| dc.rights.holder | © Недоступ Л. А., Бобало Ю. Я., Кіселичник М. Д., Лазько О. В., Васьків Г. М., 2004 | |
| dc.contributor.affiliation | Національний університет “Львівська політехніка” | |
| dc.format.pages | 6 | |
| dc.identifier.citationen | Prohramne zabezpechennia kompleksnoi optymizatsii vyrobnychykh system / L. A. Nedostup, Yu. Ya. Bobalo, M. D. Kiselychnyk, O. V. Lazko, H. M. Vaskiv // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2004. — No 522 : Kompiuterni systemy proektuvannia. Teoriia i praktyka. — P. 62–67. | |
| dc.relation.references | 1. Бобало Ю.Я., Кіселичник М.Д., Недоступ Л.А. Системний аналіз якості виробництва прецизійної радіоелектронної апаратури. - Львів, 1996. - 167 с. | |
| dc.relation.references | 2. Кіселичник М.Д. Моделювання та оптимізація процесів забезпечення якості. - Львів: 2001. - 168 с. | |
| dc.relation.references | 3. Lee, Sherry F., Eric D. Boskin, Hao Cheng Liu, Eddie H. Wen, and Costas J. Spanos. "RTSPC: A Software Utility for Real-Time SPC and Tool Data Analysis." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 8, no. 1, - p. 17-25. | |
| dc.relation.references | 4. Rao, Suraj, Andrej J. Strojwas, John P. Lehoczky, and Mark J. Schervish. "Monitoring Multistage Integrated Circuit Fabrication Processes." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 9, no. 4, - p. 495-505. | |
| dc.relation.references | 5. Spanos, Costas J. and Raymond L. Chen. "Using Qualitative Observations for Process Tuning and Control." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 10, № 2, - p. 307-316. | |
| dc.relation.references | 6. Spanos, Costa J.,Hai-Fang Guo, Alan Miller, and Joanne Levine-Parrill.'Real Time Statistical Process Control Using Tool Data." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 5, № 4, - p. 308-318. | |
| dc.relation.references | 7. Mozumder, Pumendu K. and Andrzej J. Strojwas. "Statistical Control of VLSI Fabrication Processes." IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, vol. 17, № 3,-p. 467-475. | |
| dc.relation.referencesen | 1. Bobalo Yu.Ya., Kiselychnyk M.D., Nedostup L.A. Systemnyi analiz yakosti vyrobnytstva pretsyziinoi radioelektronnoi aparatury, Lviv, 1996, 167 p. | |
| dc.relation.referencesen | 2. Kiselychnyk M.D. Modeliuvannia ta optymizatsiia protsesiv zabezpechennia yakosti, Lviv: 2001, 168 p. | |
| dc.relation.referencesen | 3. Lee, Sherry F., Eric D. Boskin, Hao Cheng Liu, Eddie H. Wen, and Costas J. Spanos. "RTSPC: A Software Utility for Real-Time SPC and Tool Data Analysis." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 8, no. 1, p. 17-25. | |
| dc.relation.referencesen | 4. Rao, Suraj, Andrej J. Strojwas, John P. Lehoczky, and Mark J. Schervish. "Monitoring Multistage Integrated Circuit Fabrication Processes." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 9, no. 4, p. 495-505. | |
| dc.relation.referencesen | 5. Spanos, Costas J. and Raymond L. Chen. "Using Qualitative Observations for Process Tuning and Control." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 10, No 2, p. 307-316. | |
| dc.relation.referencesen | 6. Spanos, Costa J.,Hai-Fang Guo, Alan Miller, and Joanne Levine-Parrill.'Real Time Statistical Process Control Using Tool Data." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 5, No 4, p. 308-318. | |
| dc.relation.referencesen | 7. Mozumder, Pumendu K. and Andrzej J. Strojwas. "Statistical Control of VLSI Fabrication Processes." IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, vol. 17, No 3,-p. 467-475. | |
| dc.citation.journalTitle | Вісник Національного університету “Львівська політехніка” | |
| dc.citation.issue | 522 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика | |
| dc.citation.spage | 62 | |
| dc.citation.epage | 67 | |
| dc.coverage.placename | Львів | |
| dc.coverage.placename | Lviv | |
| dc.subject.udc | 658.562 | |
| Appears in Collections: | Комп'ютерні системи проектування теорія і практика. – 2004. – №522
|
