https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/47343| Title: | Вимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів |
| Authors: | Микитюк, З. М. Готра, О. З. Сушинський, О. Є. Скочиляс, М. Гураль, В. В. |
| Affiliation: | Національний університет “Львівська політехніка” Львівський національний медичний університет імені Данила Галицького Жешувська політехніка |
| Bibliographic description (Ukraine): | Вимірювальний комплекс для досліджень електрооптичних характеристик рідких кристалів / З. М. Микитюк, О. З. Готра, О. Є. Сушинський, М. Скочиляс, В. В. Гураль // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005. — № 542 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. — С. 60–64. |
| Bibliographic description (International): | Vymiriuvalnyi kompleks dlia doslidzhen elektrooptychnykh kharakterystyk ridkykh krystaliv / Z. M. Mykytiuk, O. Z. Hotra, O. Ye. Sushynskyi, M. Skochylias, V. V. Hural // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2005. — No 542 : Elementy teorii ta prylady tverdotiloi elektroniky. — P. 60–64. |
| Is part of: | Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 542 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки, 2005 |
| Journal/Collection: | Вісник Національного університету “Львівська політехніка” |
| Issue: | 542 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки |
| Issue Date: | 1-Mar-2005 |
| Publisher: | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” |
| Place of the edition/event: | Львів Lviv |
| UDC: | 532.738 |
| Number of pages: | 5 |
| Page range: | 60-64 |
| Start page: | 60 |
| End page: | 64 |
| Abstract: | Розглянуто можливості створення вимірювального комплексу для досліджень електрооптичних характеристик рідкокристалічних матеріалів. Запропоновано використання мікроконтролерів для оптимізації вимірювальних методик досліджень рідкокристалічних модуляторів лазерного випромінювання, що суттєво покращило точність вимірювання. The creation of measurement сomplex for investigating of liquid crystal materials elektrooptical characteristics was described in this paper. The microkontroles using for optimization of investigation measurement methods of liquid crystal modulators of laser radiation, which permit to increase of measurements accuracy |
| URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47343 |
| Copyright owner: | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2005 © Микитюк З. М., Готра О. З., Сушинський О. Є., Скочиляс М., Гураль В. В., 2005 |
| References (Ukraine): | 1. Cypress MicroSystems, CY8C25122, CY8C26233, CY8C26443, CY8C26643 Device Data Sheet for Silicon Revision AD, Doc. #38-12010 CY Rev. 3.21. 2. Rick Hood, “The PSoC 5-Cent Modem”, Circuit Cellar, 146, 26-32, 2002. 3. Капустин А.П. Экспериментальные исследования жидких кристаллов. – М.: Наука. 1978. – 368 с. Гребенкин М. Ф., Иващенко А. В. // Жидкокристаллические материалы – М.: Химия, 1989. – 288 с. |
| References (International): | 1. Cypress MicroSystems, CY8C25122, CY8C26233, CY8C26443, CY8C26643 Device Data Sheet for Silicon Revision AD, Doc. #38-12010 CY Rev. 3.21. 2. Rick Hood, "The PSoC 5-Cent Modem", Circuit Cellar, 146, 26-32, 2002. 3. Kapustin A.P. Eksperimentalnye issledovaniia zhidkikh kristallov, M., Nauka. 1978, 368 p. Hrebenkin M. F., Ivashchenko A. V., Zhidkokristallicheskie materialy – M., Khimiia, 1989, 288 p. |
| Content type: | Article |
| Appears in Collections: | Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2005. – №542 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 2005n542_Mikitiuk_Z_M-Vymiriuvalnyi_kompleks_60-64.pdf | 1.51 MB | Adobe PDF | View/Open | |
| 2005n542_Mikitiuk_Z_M-Vymiriuvalnyi_kompleks_60-64__COVER.png | 409.3 kB | image/png | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.