DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Малик, О. П. | |
dc.contributor.author | Кеньо, Г. В. | |
dc.contributor.author | Malyk, O. P. | |
dc.contributor.author | Kenyo, G. V. | |
dc.contributor.author | Малик, О. П. | |
dc.contributor.author | Кеньо, Г. В. | |
dc.date.accessioned | 2020-03-12T09:14:30Z | - |
dc.date.available | 2020-03-12T09:14:30Z | - |
dc.identifier.citation | Malyk O. P. The short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride / O. P. Malyk, G. V. Kenyo // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. — № 740 : Фізико-математичні науки. — С. 100–104. | |
dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47229 | - |
dc.description.abstract | Розглянуто процеси розсіяння електронів на близькодіючому потенціалі, обумовленому взаємодією з полярними та неполярними оптичними фононами, п’єзоелектричними та акустичними фононами, полем статичної деформації, іонізованими та нейтральними домішками в зразку ІпМ зі структурою вюртциту та з концентрацією електронів ~ 6 х 1017см_3. Розраховано температурну залежність рухливості електронів в інтервалі 4.2 — 560 К. | |
dc.description.abstract | The processes of the electron scattering on the short-range potential caused by interaction with polar and nonpolar optical phonons, piezoelectric and acoustic phonons, static strain, neutral and ionized impurities in wurtzite InN sample with electron concentration ~ 6 x 1017 cm~3 are considered. The temperature dependence of the electron mobility in the temperature range 4.2 — 560 K is calculated. | |
dc.description.abstract | Рассмотрены процессы россеяния электронов на близкодействующем потенциале, обусловленном взаимодействием с полярными и неполярными оптическими фононами, пьезоэлектрическими и акустическими фононами, статической деформации, нейтральной и заряженной примеси в образцах СаМ со структурой вюртцита и концентрацией электронов ~ 6 х 1017см_3. Рассчитана температурная зависимость подвижности электронов в интервале 4.2 — 560 К. | |
dc.format.extent | 100-104 | |
dc.language.iso | en | |
dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | |
dc.relation.ispartof | Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 740 : Фізико-математичні науки, 2012 | |
dc.subject | явища переносу | |
dc.subject | розсіяння носіїв заряду | |
dc.subject | нітрид Індію | |
dc.subject | transport phenomena | |
dc.subject | charge carrier scattering | |
dc.subject | indium nitride | |
dc.subject | явления переноса | |
dc.subject | рассеяние носителей заряда | |
dc.subject | нитрид индия | |
dc.title | The short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride | |
dc.title.alternative | Принцип близькодії в теорії розсіяння електронів в нітриді індію | |
dc.title.alternative | Принцип близкодействия в теории рассеяния электронов в нитриде индия | |
dc.type | Article | |
dc.rights.holder | © Національний університет „Львівська політехніка“, 2012 | |
dc.contributor.affiliation | Національний університет “Львівська політехніка” | |
dc.contributor.affiliation | National University “Lvivska Politechnika” | |
dc.contributor.affiliation | Национальный университет “Львивська политехника” | |
dc.format.pages | 5 | |
dc.identifier.citationen | Malyk O. P. The short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride / O. P. Malyk, G. V. Kenyo // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2012. — No 740 : Fizyko-matematychni nauky. — P. 100–104. | |
dc.relation.references | [1] Look D.C., Lu H., Scha- W.J., Jansinski J., Liliental-Weber Z. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 80. - Ð.258-260. | |
dc.relation.references | [2] Ikuta K., Inoue Y., Takai O. // Thin Solid Films. -1998. - 334. - P.49-53. | |
dc.relation.references | [3] Davydov V.Yu. et al. // Phys. Status Solidi B. - 2002. - 229. - R1. | |
dc.relation.references | [4] Kasic A., Schubert M., Saito Y., Nanishi Y., Wagner G. // Phys. Rev. B. - 2002. - 65. - 115206. | |
dc.relation.references | [5] Wu J. et al. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 80. - P.3967-3969. | |
dc.relation.references | [6] Jain S.C., Willander M., Narayan J., Van Overstraeten R. // J. Appl. Phys. - 2000. - 87. - P.965-1006. | |
dc.relation.references | [7] Matsuoka T., Okamoto H., Nakao M., Harima H., Kurimoto E. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 81. - P.1246-1248. | |
dc.relation.references | [8] Nag B.R. // J. Cryst. Growth. - 2004. - 269. - P.35-40. | |
dc.relation.references | [9] O'Leary S.K., Foutz B.E., Shur M.S., Bhapkar U.V., Eastman L.F. // J. Appl. Phys. - 1998. - 83. - P.826-829. | |
dc.relation.references | [10] Thakur J.S., Naik R., Naik V.M., Haddad D., Auner G.W., Lu H., Scha- W.J. // J. Appl. Phys. - 2006. - 99. - 023504. | |
dc.relation.references | [11] Malyk O.P. // Mater. Sci. & Engineering B. - 2006. - 129. - P.161-171. | |
dc.relation.references | [12] O.P .Malyk // Phys. Status Solidi C. - 2009. - 6. - P.S86-S89. | |
dc.relation.references | [13] Malyk O.P. // Physica B:Condensed Matter. - 2009. -404. - P.5022-5024. | |
dc.relation.references | [14] Malyk O.P. // Phys. Status Solidi C. - 2012. - 9. -P.842-846. | |
dc.relation.references | [15] Malyk O.P. // Diamond Relat. Mater. - 2012. - 23. -P.23-27. | |
dc.relation.references | [16] Malyk O.P. // WSEAS Trans. Math. - 2004. - 3. - P.354- 357. | |
dc.relation.references | [17] Chin V.W.L., Tansley T.L. and Osotchan T. // J. Appl. Phys. - 1994.- 75. - P.7365-7372. | |
dc.relation.references | [18] Wu J., Walukiewicz W., Shan W., Yu K.M., Ager J.W. et al. // J. Appl. Phys. 2003. - 94. - P.4457-4460. | |
dc.relation.references | [19] Morkoc H. Nitride semiconductors and devices. StateBerlin, CityplaceHeidelberg, StateNew York: Springer; 1999. | |
dc.relation.references | [20] Blacha A., Presting H., Cardona M. // Phys. Stat. Sol.(b). - 1984. - 126. - P.11-36. | |
dc.relation.references | [21] Aydogu S., Ozbas O. // Mater. Sci. Semicond. Proc. - 2005. - 8. - D.536-539. | |
dc.relation.references | [22] Rodridgues C.G., Freire V.N., Vasconcellos A.R., Luzzi R. // Mater. Res. - 2002. - 6. - P.1-4. | |
dc.relation.references | [23] Bechstedt F., Furthmuller J., Ferhat M., Teles L.K., Scolfaro L.M.R. et al // Phys Stat Sol.(a). - 2003. - 195. - P.628-633. | |
dc.relation.referencesen | [1] Look D.C., Lu H., Scha- W.J., Jansinski J., Liliental-Weber Z., Appl. Phys. Lett, 2002, 80, Ð.258-260. | |
dc.relation.referencesen | [2] Ikuta K., Inoue Y., Takai O., Thin Solid Films. -1998, 334, P.49-53. | |
dc.relation.referencesen | [3] Davydov V.Yu. et al., Phys. Status Solidi B, 2002, 229, R1. | |
dc.relation.referencesen | [4] Kasic A., Schubert M., Saito Y., Nanishi Y., Wagner G., Phys. Rev. B, 2002, 65, 115206. | |
dc.relation.referencesen | [5] Wu J. et al., Appl. Phys. Lett, 2002, 80, P.3967-3969. | |
dc.relation.referencesen | [6] Jain S.C., Willander M., Narayan J., Van Overstraeten R., J. Appl. Phys, 2000, 87, P.965-1006. | |
dc.relation.referencesen | [7] Matsuoka T., Okamoto H., Nakao M., Harima H., Kurimoto E., Appl. Phys. Lett, 2002, 81, P.1246-1248. | |
dc.relation.referencesen | [8] Nag B.R., J. Cryst. Growth, 2004, 269, P.35-40. | |
dc.relation.referencesen | [9] O'Leary S.K., Foutz B.E., Shur M.S., Bhapkar U.V., Eastman L.F., J. Appl. Phys, 1998, 83, P.826-829. | |
dc.relation.referencesen | [10] Thakur J.S., Naik R., Naik V.M., Haddad D., Auner G.W., Lu H., Scha- W.J., J. Appl. Phys, 2006, 99, 023504. | |
dc.relation.referencesen | [11] Malyk O.P., Mater. Sci. & Engineering B, 2006, 129, P.161-171. | |
dc.relation.referencesen | [12] O.P .Malyk, Phys. Status Solidi C, 2009, 6, P.S86-S89. | |
dc.relation.referencesen | [13] Malyk O.P., Physica B:Condensed Matter, 2009. -404, P.5022-5024. | |
dc.relation.referencesen | [14] Malyk O.P., Phys. Status Solidi C, 2012, 9. -P.842-846. | |
dc.relation.referencesen | [15] Malyk O.P., Diamond Relat. Mater, 2012, 23. -P.23-27. | |
dc.relation.referencesen | [16] Malyk O.P., WSEAS Trans. Math, 2004, 3, P.354- 357. | |
dc.relation.referencesen | [17] Chin V.W.L., Tansley T.L. and Osotchan T., J. Appl. Phys, 1994, 75, P.7365-7372. | |
dc.relation.referencesen | [18] Wu J., Walukiewicz W., Shan W., Yu K.M., Ager J.W. et al., J. Appl. Phys. 2003, 94, P.4457-4460. | |
dc.relation.referencesen | [19] Morkoc H. Nitride semiconductors and devices. StateBerlin, CityplaceHeidelberg, StateNew York: Springer; 1999. | |
dc.relation.referencesen | [20] Blacha A., Presting H., Cardona M., Phys. Stat. Sol.(b), 1984, 126, P.11-36. | |
dc.relation.referencesen | [21] Aydogu S., Ozbas O., Mater. Sci. Semicond. Proc, 2005, 8, D.536-539. | |
dc.relation.referencesen | [22] Rodridgues C.G., Freire V.N., Vasconcellos A.R., Luzzi R., Mater. Res, 2002, 6, P.1-4. | |
dc.relation.referencesen | [23] Bechstedt F., Furthmuller J., Ferhat M., Teles L.K., Scolfaro L.M.R. et al, Phys Stat Sol.(a), 2003, 195, P.628-633. | |
dc.citation.journalTitle | Вісник Національного університету “Львівська політехніка” | |
dc.citation.issue | 740 : Фізико-математичні науки | |
dc.citation.spage | 100 | |
dc.citation.epage | 104 | |
dc.coverage.placename | Львів | |
dc.subject.udc | 621.315.592 | |
Appears in Collections: | Фізико-математичні науки. – 2012. – №740
|