Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/47229
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМалик, О. П.
dc.contributor.authorКеньо, Г. В.
dc.contributor.authorMalyk, O. P.
dc.contributor.authorKenyo, G. V.
dc.contributor.authorМалик, О. П.
dc.contributor.authorКеньо, Г. В.
dc.date.accessioned2020-03-12T09:14:30Z-
dc.date.available2020-03-12T09:14:30Z-
dc.identifier.citationMalyk O. P. The short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride / O. P. Malyk, G. V. Kenyo // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. — № 740 : Фізико-математичні науки. — С. 100–104.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47229-
dc.description.abstractРозглянуто процеси розсіяння електронів на близькодіючому потенціалі, обумовленому взаємодією з полярними та неполярними оптичними фононами, п’єзоелектричними та акустичними фононами, полем статичної деформації, іонізованими та нейтральними домішками в зразку ІпМ зі структурою вюртциту та з концентрацією електронів ~ 6 х 1017см_3. Розраховано температурну залежність рухливості електронів в інтервалі 4.2 — 560 К.
dc.description.abstractThe processes of the electron scattering on the short-range potential caused by interaction with polar and nonpolar optical phonons, piezoelectric and acoustic phonons, static strain, neutral and ionized impurities in wurtzite InN sample with electron concentration ~ 6 x 1017 cm~3 are considered. The temperature dependence of the electron mobility in the temperature range 4.2 — 560 K is calculated.
dc.description.abstractРассмотрены процессы россеяния электронов на близкодействующем потенциале, обусловленном взаимодействием с полярными и неполярными оптическими фононами, пьезоэлектрическими и акустическими фононами, статической деформации, нейтральной и заряженной примеси в образцах СаМ со структурой вюртцита и концентрацией электронов ~ 6 х 1017см_3. Рассчитана температурная зависимость подвижности электронов в интервале 4.2 — 560 К.
dc.format.extent100-104
dc.language.isoen
dc.publisherВидавництво Львівської політехніки
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 740 : Фізико-математичні науки, 2012
dc.subjectявища переносу
dc.subjectрозсіяння носіїв заряду
dc.subjectнітрид Індію
dc.subjecttransport phenomena
dc.subjectcharge carrier scattering
dc.subjectindium nitride
dc.subjectявления переноса
dc.subjectрассеяние носителей заряда
dc.subjectнитрид индия
dc.titleThe short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride
dc.title.alternativeПринцип близькодії в теорії розсіяння електронів в нітриді індію
dc.title.alternativeПринцип близкодействия в теории рассеяния электронов в нитриде индия
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Національний університет „Львівська політехніка“, 2012
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.affiliationNational University “Lvivska Politechnika”
dc.contributor.affiliationНациональный университет “Львивська политехника”
dc.format.pages5
dc.identifier.citationenMalyk O. P. The short-range principle in the electron scattering theory in indium nitride / O. P. Malyk, G. V. Kenyo // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2012. — No 740 : Fizyko-matematychni nauky. — P. 100–104.
dc.relation.references[1] Look D.C., Lu H., Scha- W.J., Jansinski J., Liliental-Weber Z. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 80. - Ð.258-260.
dc.relation.references[2] Ikuta K., Inoue Y., Takai O. // Thin Solid Films. -1998. - 334. - P.49-53.
dc.relation.references[3] Davydov V.Yu. et al. // Phys. Status Solidi B. - 2002. - 229. - R1.
dc.relation.references[4] Kasic A., Schubert M., Saito Y., Nanishi Y., Wagner G. // Phys. Rev. B. - 2002. - 65. - 115206.
dc.relation.references[5] Wu J. et al. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 80. - P.3967-3969.
dc.relation.references[6] Jain S.C., Willander M., Narayan J., Van Overstraeten R. // J. Appl. Phys. - 2000. - 87. - P.965-1006.
dc.relation.references[7] Matsuoka T., Okamoto H., Nakao M., Harima H., Kurimoto E. // Appl. Phys. Lett. - 2002. - 81. - P.1246-1248.
dc.relation.references[8] Nag B.R. // J. Cryst. Growth. - 2004. - 269. - P.35-40.
dc.relation.references[9] O'Leary S.K., Foutz B.E., Shur M.S., Bhapkar U.V., Eastman L.F. // J. Appl. Phys. - 1998. - 83. - P.826-829.
dc.relation.references[10] Thakur J.S., Naik R., Naik V.M., Haddad D., Auner G.W., Lu H., Scha- W.J. // J. Appl. Phys. - 2006. - 99. - 023504.
dc.relation.references[11] Malyk O.P. // Mater. Sci. & Engineering B. - 2006. - 129. - P.161-171.
dc.relation.references[12] O.P .Malyk // Phys. Status Solidi C. - 2009. - 6. - P.S86-S89.
dc.relation.references[13] Malyk O.P. // Physica B:Condensed Matter. - 2009. -404. - P.5022-5024.
dc.relation.references[14] Malyk O.P. // Phys. Status Solidi C. - 2012. - 9. -P.842-846.
dc.relation.references[15] Malyk O.P. // Diamond Relat. Mater. - 2012. - 23. -P.23-27.
dc.relation.references[16] Malyk O.P. // WSEAS Trans. Math. - 2004. - 3. - P.354- 357.
dc.relation.references[17] Chin V.W.L., Tansley T.L. and Osotchan T. // J. Appl. Phys. - 1994.- 75. - P.7365-7372.
dc.relation.references[18] Wu J., Walukiewicz W., Shan W., Yu K.M., Ager J.W. et al. // J. Appl. Phys. 2003. - 94. - P.4457-4460.
dc.relation.references[19] Morkoc H. Nitride semiconductors and devices. StateBerlin, CityplaceHeidelberg, StateNew York: Springer; 1999.
dc.relation.references[20] Blacha A., Presting H., Cardona M. // Phys. Stat. Sol.(b). - 1984. - 126. - P.11-36.
dc.relation.references[21] Aydogu S., Ozbas O. // Mater. Sci. Semicond. Proc. - 2005. - 8. - D.536-539.
dc.relation.references[22] Rodridgues C.G., Freire V.N., Vasconcellos A.R., Luzzi R. // Mater. Res. - 2002. - 6. - P.1-4.
dc.relation.references[23] Bechstedt F., Furthmuller J., Ferhat M., Teles L.K., Scolfaro L.M.R. et al // Phys Stat Sol.(a). - 2003. - 195. - P.628-633.
dc.relation.referencesen[1] Look D.C., Lu H., Scha- W.J., Jansinski J., Liliental-Weber Z., Appl. Phys. Lett, 2002, 80, Ð.258-260.
dc.relation.referencesen[2] Ikuta K., Inoue Y., Takai O., Thin Solid Films. -1998, 334, P.49-53.
dc.relation.referencesen[3] Davydov V.Yu. et al., Phys. Status Solidi B, 2002, 229, R1.
dc.relation.referencesen[4] Kasic A., Schubert M., Saito Y., Nanishi Y., Wagner G., Phys. Rev. B, 2002, 65, 115206.
dc.relation.referencesen[5] Wu J. et al., Appl. Phys. Lett, 2002, 80, P.3967-3969.
dc.relation.referencesen[6] Jain S.C., Willander M., Narayan J., Van Overstraeten R., J. Appl. Phys, 2000, 87, P.965-1006.
dc.relation.referencesen[7] Matsuoka T., Okamoto H., Nakao M., Harima H., Kurimoto E., Appl. Phys. Lett, 2002, 81, P.1246-1248.
dc.relation.referencesen[8] Nag B.R., J. Cryst. Growth, 2004, 269, P.35-40.
dc.relation.referencesen[9] O'Leary S.K., Foutz B.E., Shur M.S., Bhapkar U.V., Eastman L.F., J. Appl. Phys, 1998, 83, P.826-829.
dc.relation.referencesen[10] Thakur J.S., Naik R., Naik V.M., Haddad D., Auner G.W., Lu H., Scha- W.J., J. Appl. Phys, 2006, 99, 023504.
dc.relation.referencesen[11] Malyk O.P., Mater. Sci. & Engineering B, 2006, 129, P.161-171.
dc.relation.referencesen[12] O.P .Malyk, Phys. Status Solidi C, 2009, 6, P.S86-S89.
dc.relation.referencesen[13] Malyk O.P., Physica B:Condensed Matter, 2009. -404, P.5022-5024.
dc.relation.referencesen[14] Malyk O.P., Phys. Status Solidi C, 2012, 9. -P.842-846.
dc.relation.referencesen[15] Malyk O.P., Diamond Relat. Mater, 2012, 23. -P.23-27.
dc.relation.referencesen[16] Malyk O.P., WSEAS Trans. Math, 2004, 3, P.354- 357.
dc.relation.referencesen[17] Chin V.W.L., Tansley T.L. and Osotchan T., J. Appl. Phys, 1994, 75, P.7365-7372.
dc.relation.referencesen[18] Wu J., Walukiewicz W., Shan W., Yu K.M., Ager J.W. et al., J. Appl. Phys. 2003, 94, P.4457-4460.
dc.relation.referencesen[19] Morkoc H. Nitride semiconductors and devices. StateBerlin, CityplaceHeidelberg, StateNew York: Springer; 1999.
dc.relation.referencesen[20] Blacha A., Presting H., Cardona M., Phys. Stat. Sol.(b), 1984, 126, P.11-36.
dc.relation.referencesen[21] Aydogu S., Ozbas O., Mater. Sci. Semicond. Proc, 2005, 8, D.536-539.
dc.relation.referencesen[22] Rodridgues C.G., Freire V.N., Vasconcellos A.R., Luzzi R., Mater. Res, 2002, 6, P.1-4.
dc.relation.referencesen[23] Bechstedt F., Furthmuller J., Ferhat M., Teles L.K., Scolfaro L.M.R. et al, Phys Stat Sol.(a), 2003, 195, P.628-633.
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.issue740 : Фізико-математичні науки
dc.citation.spage100
dc.citation.epage104
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.subject.udc621.315.592
Appears in Collections:Фізико-математичні науки. – 2012. – №740

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2012n740_Malyk_O_P-The_short_range_principle_100-104.pdf788.11 kBAdobe PDFView/Open
2012n740_Malyk_O_P-The_short_range_principle_100-104__COVER.png462.78 kBimage/pngView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.