Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/4561
Title: Моделювання тетраедричних дефектних станів в стеклах As-S
Authors: Бойко, В. Т.
Bibliographic description (Ukraine): Бойко В. Т. Моделювання тетраедричних дефектних станів в стеклах As-S / В. Т. Бойко // Тринадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету «Львівська політехніка» з проблем електроніки : тези доповідей, 13–15 квітня 2010 року / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2010. – С. 9. – Бібліографія: 2 назви.
Issue Date: 2010
Publisher: Видавництво Національного університету "Львівська політехніка"
Keywords: катіон
аніон
кластер
базис
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/4561
Content type: Technical Report
Appears in Collections:Тринадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки. – 2010 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
5.pdf85.05 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.