Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/42987
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКривенчук, Юрій
dc.contributor.authorКривенчук, Уляна
dc.contributor.authorKryvenchuk, Yurii
dc.contributor.authorKryvenchuk, Uliana
dc.date.accessioned2018-11-14T08:53:50Z-
dc.date.available2018-11-14T08:53:50Z-
dc.date.created2017-03-28
dc.date.issued2017-03-28
dc.identifier.citationКривенчук Ю. Аналітичний огляд методів та засобів вимірювання температури об’єктів малих розмірів / Юрій Кривенчук, Уляна Кривенчук // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2017. — Том 78. — С. 25–33.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/42987-
dc.description.abstractПроаналізовано основні переваги та недоліки контактних та безконтактних методів і засобів вимірювання температури та можливість їх застосування для вимірювання температури мікро- та нанооб’єктів. Враховуючи результати виконаного аналізу, переваги та недоліки розглянутих методів, для вимірювання температури об’єктів малих розмірів оптимальним є застосування методу комбінаційного розсіювання світла. Показано доцільність використання методу за зсувом частоти комбінаційного розсіювання світла для побудови засобу вимірювання температури нанооб’єктів, що забезпечує зменшення часу вимірювання та методичної похибки.
dc.description.abstractThe article reviews and analyzes the most common methods of measuring temperature. Also, the possibility of applying these methods to measuring the temperature of Nano objects has been studied. As a consequence, it is determined that the method of combining light scattering is best suited for solving such an engineering problem. Means of measuring the temperature based on the method of the combination of light scattering can be constructed according to the following dependencies:1. Dependence of temperature on the intensity ratio of the Stokes and anti-Stokes components of the spectrum of light scattering;2. the dependence of the shift of the frequency of the combination of light scatter from the temperature. Both methods have a methodological error in measuring the temperature which is associated with the heating of the object being studied by a laser beam. During the measurement, the temperature of the object being studied is constantly increasing due to the energy received from the laser. When using the first method, the Stokes, and then the anti-Stokes components of the spectrum of light scattering are first measured. The total measurement time can be up to 40 seconds. Therefore, the anti-Stokes component is measured at a different temperature of the test sample, which leads to a significant increase in the methodological error of measuring the temperature by the method of the combination of light scattering. In the second method, only the anti-Stokes component of the spectrum of the combination scattering of light is measured, which changes the temperature of the equivalent frequency of the spectrum of light scattering. The measuring time decreases at least twice as compared to the first method, the heating of the object under study by the laser beam decreases, which reduces the methodological error of measurement of the temperature by the method of the combination of light scattering. It is known that at temperatures of 300 ÷ 400 K the intensity of the anti-Stokes line is very small, therefore the method of thermometry in relation to Is / Ias is less convenient than the method of shifting the frequency of light scattering. From the measuring characteristics of the thermometry of the combination light scattering, the most important is the high spatial resolution, which is close to half the wavelength of the probe light. When ion or electron bombardment of the surface is possible generation of non-equilibrium photons. At the same time, the intensity of the anti-Stokes line of the combination light scattering may increase substantially, which is manifested in an abnormally low ratio of I / Ias for the given temperature. The problem of registering such states lies in the fact that in the collision of one particle with the surface, the inequality is localized in very small station-temporal intervals. (at the lengths of the order of 10-7 cm and the time 10-12 s), and when the averaging over the area of the probe beam and the time of sounding, the recorded effect can be extremely small.
dc.description.abstractПроанализированы основные преимущества и недостатки контактных и бесконтактных методов и средств измерения температуры и возможность их применения для измерения температуры микро- и нанообъектов. Учитывая результаты проведенного анализа, преимущества и недостатки рассмотренных методов, для измерения температуры объектов малых размеров оптимальным является применение метода комбинационного рассеяния света. Показана целесообразность использования метода по сдвигу частоты комбинационного рассеяния света для построения средства измерения температуры нанообъектов, что обеспечивает уменьшение времени измерения и методической погрешности.
dc.format.extent25-33
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Львівської політехніки
dc.relation.ispartofВимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник (78), 2017
dc.relation.urihttp://chem.lnu.edu.ua/
dc.subjectвимірювання температури нанооб’єктів
dc.subjectметод комбінаційного розсіювання світла
dc.subjecttemperature measurement of nano objects
dc.subjectmethod of light scattering
dc.subjectизмерение температуры нанообъектов
dc.subjectметод комбинационного рассеяния света
dc.titleАналітичний огляд методів та засобів вимірювання температури об’єктів малих розмірів
dc.title.alternativeAnalytical review of methods and means of measuring the temperature of small sizes objects
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Національний університет „Львівська політехніка“, 2017
dc.rights.holder© КривенчукЮрій, Кривенчук Уляна, 2017
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.affiliationДержавне підприємство “Науково-дослідний інститут метрології вимірювальних і управляючих систем”
dc.format.pages9
dc.identifier.citationenKryvenchuk Y. Analytical review of methods and means of measuring the temperature of small sizes objects / Yurii Kryvenchuk, Uliana Kryvenchuk // Vymiriuvalna tekhnika ta metrolohiia : mizhvidomchyi naukovo-tekhnichnyi zbirnyk. — Lviv : Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2017. — Vol 78. — P. 25–33.
dc.relation.references1. Луцик Я. Т., Гук О. П., Лах О. І., Стадник Б. І. Вимірювання температури: теорія та практика. – Львів: Бескид Біт, 2006.
dc.relation.references2. Lo H. W., Compaan A. // Phys. Rev. Lett. 1980. Vol. 44, № 24. P. 1604.
dc.relation.references3. Лах В. І., Гук О. П., Лах О. І., Гаєвська О. Є. Засоби контактної термометрії. Порядок вибору та встановлення / ГР 3-021-2003. – К.: Вид-во Держспоживстандарту, 2004. –21 с.
dc.relation.references4. Compaan A., Lee M. C, Lo H. W. et al. // J. Appl. Phys. 1983. – Vol. 54, No. 10. – P. 5950.
dc.relation.references5. Schuster G., Hechtfischer В., Fellmuth В. // Rep. Prog. Phys. – 1994. – Vol. 57. – P. 187.
dc.relation.references6. Dai S., Young J. P., Begun СМ., Mamantov G. // Appl. Spectrosc. – 1992. – Vol. 46, No. 2. – P. 375.
dc.relation.references7. LaPlant F., Laurence C, Ben-Amotz D. // Appl. Spectrosc. – 1996. – Vol. 50, No.
dc.relation.references8. – P. 1034. 8. Cui J. B., Amtmann K., Ristein J., Ley L. // J. Appl. Phys. – 1998. – Vol. 83, No. 12. – P. 7929.
dc.relation.references9. Zou J., Wang S., Yang Z. // Int. J. Infrared and Millimeter Waves. – 2000. – Vol. 21, No. 5. – P. 793.
dc.relation.references10. Peacock N. J., Robinson D. С, Forrest M. J. et al. // Nature. – 1969. – Vol. 224, No. 5218. – P. 488.
dc.relation.references11. Alexander Dmitriyev // Laser pyrometry offers practical temperature measurement. Heat treating progress,2005
dc.relation.references12. Childs P.R.N., Greenwood J.R., Long С. А. // Rev. Sci. Instrum. – 2000. – Vol. 71, No. 8. – P. 2959.
dc.relation.references13. Peter J. Hesketh. “Bio Nano Fluidic MEMS”. Springer Science & Business Media, NY, 2007
dc.relation.references14. Jellison С E., Jr., Lowdnes D. Н., Wood R. F. // Phys. Rev. B. – 1983. – Vol. 28, No. 6. – P. 3272.
dc.relation.references15. Kip B. J., Meier R. J. // Appl. Spectr. – 1990. – Vol. 44, No. 4. – P. 707.
dc.relation.references16. Коливна спектроскопія / [Електронний ресурс]. Режим дос- тупу: http://chem.lnu.edu.ua/ kah/Patsay/fmd/lecture-5.pdf
dc.relation.references17. Wang Xinwei. Experimental Micro Nanoscale Thermal Transport. // John Wiley & Song, Canada, 2012.
dc.relation.references18. Michalski L. Temperature Measurement. Second edition. // John Wiley & Song, Canada, 2012
dc.relation.references19. Boyraz, Özdal; Jalali, Bahram. Demonstration of a silicon Raman laser // Optics Express (2004), 5269–5273 р.
dc.relation.references20. B. Stadnyk. Metrological Array of Cyber-Physical Systems. Part 8. Elaboration of Raman Method / B. Stadnyk, S. Yatsyshyn, O. Seheda, Yu. Kryvenchuk // Sensors & Transducers, Vol. 189, Issue 6, June 2015, pp. 116–120.
dc.relation.references21. Кривенчук Ю. Метод комбінаційного розсіювання світла у термометрії поверхні мікро- об’єктів / Сегеда О., Яцишин С., Кривенчук Ю. // Вимі- рювальна техніка та метрологія. – 2012. – № 73. – С. 28–31.
dc.relation.references22. Луцик Я. Т. Енциклопедія термометрії / Луцик Я. Т., Буняк Л. К., Рудавський Ю. К., Стадник Б. І. – Львів 2003. – 280–285 с.
dc.relation.references23. S. Yatsyshyn. Handbook of Thermometry and Nanothermometry / S. Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, L. Byniak. – IFSA, 2015.
dc.relation.referencesen1. Lutsyk Ya. T., Huk O. P., Lakh O. I., Stadnyk B. I. Vymiriuvannia temperatury: teoriia ta praktyka, Lviv: Beskyd Bit, 2006.
dc.relation.referencesen2. Lo H. W., Compaan A., Phys. Rev. Lett. 1980. Vol. 44, No 24. P. 1604.
dc.relation.referencesen3. Lakh V. I., Huk O. P., Lakh O. I., Haievska O. Ye. Zasoby kontaktnoi termometrii. Poriadok vyboru ta vstanovlennia, HR 3-021-2003, K., Vyd-vo Derzhspozhyvstandartu, 2004. –21 p.
dc.relation.referencesen4. Compaan A., Lee M. C, Lo H. W. et al., J. Appl. Phys. 1983, Vol. 54, No. 10, P. 5950.
dc.relation.referencesen5. Schuster G., Hechtfischer V., Fellmuth V., Rep. Prog. Phys, 1994, Vol. 57, P. 187.
dc.relation.referencesen6. Dai S., Young J. P., Begun SM., Mamantov G., Appl. Spectrosc, 1992, Vol. 46, No. 2, P. 375.
dc.relation.referencesen7. LaPlant F., Laurence C, Ben-Amotz D., Appl. Spectrosc, 1996, Vol. 50, No.
dc.relation.referencesen8, P. 1034. 8. Cui J. B., Amtmann K., Ristein J., Ley L., J. Appl. Phys, 1998, Vol. 83, No. 12, P. 7929.
dc.relation.referencesen9. Zou J., Wang S., Yang Z., Int. J. Infrared and Millimeter Waves, 2000, Vol. 21, No. 5, P. 793.
dc.relation.referencesen10. Peacock N. J., Robinson D. S, Forrest M. J. et al., Nature, 1969, Vol. 224, No. 5218, P. 488.
dc.relation.referencesen11. Alexander Dmitriyev, Laser pyrometry offers practical temperature measurement. Heat treating progress,2005
dc.relation.referencesen12. Childs P.R.N., Greenwood J.R., Long S. A., Rev. Sci. Instrum, 2000, Vol. 71, No. 8, P. 2959.
dc.relation.referencesen13. Peter J. Hesketh. "Bio Nano Fluidic MEMS". Springer Science & Business Media, NY, 2007
dc.relation.referencesen14. Jellison S E., Jr., Lowdnes D. N., Wood R. F., Phys. Rev. B, 1983, Vol. 28, No. 6, P. 3272.
dc.relation.referencesen15. Kip B. J., Meier R. J., Appl. Spectr, 1990, Vol. 44, No. 4, P. 707.
dc.relation.referencesen16. Kolyvna spektroskopiia, [Electronic resource]. Rezhym dos- tupu: http://chem.lnu.edu.ua/ kah/Patsay/fmd/lecture-5.pdf
dc.relation.referencesen17. Wang Xinwei. Experimental Micro Nanoscale Thermal Transport., John Wiley & Song, Canada, 2012.
dc.relation.referencesen18. Michalski L. Temperature Measurement. Second edition., John Wiley & Song, Canada, 2012
dc.relation.referencesen19. Boyraz, Özdal; Jalali, Bahram. Demonstration of a silicon Raman laser, Optics Express (2004), 5269–5273 r.
dc.relation.referencesen20. B. Stadnyk. Metrological Array of Cyber-Physical Systems. Part 8. Elaboration of Raman Method, B. Stadnyk, S. Yatsyshyn, O. Seheda, Yu. Kryvenchuk, Sensors & Transducers, Vol. 189, Issue 6, June 2015, pp. 116–120.
dc.relation.referencesen21. Kryvenchuk Yu. Metod kombinatsiinoho rozsiiuvannia svitla u termometrii poverkhni mikro- obiektiv, Seheda O., Yatsyshyn S., Kryvenchuk Yu., Vymi- riuvalna tekhnika ta metrolohiia, 2012, No 73, P. 28–31.
dc.relation.referencesen22. Lutsyk Ya. T. Entsyklopediia termometrii, Lutsyk Ya. T., Buniak L. K., Rudavskyi Yu. K., Stadnyk B. I, Lviv 2003, 280–285 p.
dc.relation.referencesen23. S. Yatsyshyn. Handbook of Thermometry and Nanothermometry, S. Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, L. Byniak, IFSA, 2015.
dc.citation.journalTitleВимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник
dc.citation.volume78
dc.citation.spage25
dc.citation.epage33
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.subject.udc536.532
Appears in Collections:Вимірювальна техніка та метрологія. – 2017. – Випуск 78

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2017v78_Kryvenchuk_Y-Analytical_review_of_methods_25-33.pdf1.21 MBAdobe PDFView/Open
2017v78_Kryvenchuk_Y-Analytical_review_of_methods_25-33__COVER.png496 kBimage/pngView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.