Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/42522
Title: High ohmic measurements of thick film glass layer insulators
Authors: Jakubowska, Małgorzata
Grzesiak, Wojciech
Affiliation: Institute of Electronic Materials Technology, Poland
Institute of Electron Technology, Poland
Bibliographic description (Ukraine): Jakubowska M. High ohmic measurements of thick film glass layer insulators / M. Jakubowska, W. Grzesiak // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2002. – № 458 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – С. 76–81. – Bibliography: 4 titles.
Journal/Collection: Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки
Issue Date: 2002
Publisher: Видавництво Національного університету "Львівська політехніка"
Country (code): UA
Place of the edition/event: Львів
Number of pages: 76–81
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/42522
Copyright owner: © Małgorzata Jakubowska, Wojciech Grzesiak, 2002
References (Ukraine): [1] Jakubowska М., Pitt K., Influence, of the contacts and firing process on the properties of thick film resistors on alumina and dielectrics, Journal of Materials Science: Materials in Electronics, no 6, 1995, s.75-78. [2] Achmatowicz S, Jakubowska М., Zwierkowska E., Szczytko B., Szymanski D., Pasta izolacyjna, Patent RP, nr. 162992, in Polish. [3] Jakubowska М., et al, The New Thick Film Paste Based on Cubic Boron Nitride, Proc. of XXVI Int. Corf. of IMAPS Poland Chapter, Warsaw, 25-27 Sept. 2002, p. 70-74. [4] Grzesiak W, Analysis of Resistance vs. Votage dependence in Low Regions for Precisions Value Resistors, Proc. of European Microelectronics, Packaging and Interconnection Symposium, Cracow 2002, Poland, 16-18 June 2002 , p. 346-349.
Content type: Article
Appears in Collections:Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2002. – №458

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
15_76-81.pdf159.13 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.