Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/40167
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorLuchechko, A.
dc.contributor.authorVasyltsiv, V.
dc.contributor.authorKostyk, L.
dc.contributor.authorTsvetkova, O.
dc.coverage.temporal29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
dc.coverage.temporalMay 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
dc.date.accessioned2018-04-02T13:41:50Z-
dc.date.available2018-04-02T13:41:50Z-
dc.date.created2017-05-29
dc.date.issued2017-05-29
dc.identifier.citationDeep Levels in β-Ga2O3 Single Crystals Doped with Mg2+ Ions / A. Luchechko, V. Vasyltsiv, L. Kostyk, O. Tsvetkova // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 56. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40167-
dc.format.extent56
dc.language.isoen
dc.relation.ispartofОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
dc.relation.ispartofOxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
dc.titleDeep Levels in β-Ga2O3 Single Crystals Doped with Mg2+ Ions
dc.typeConference Abstract
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
dc.contributor.affiliationDepartment of Sensor and Semiconductor Electronics, Ivan Franko National University of Lviv
dc.contributor.affiliationTarnanavskogo Str., 79017 Lviv, Ukraine
dc.contributor.affiliationluchechko@electronics.lnu.edu.ua
dc.format.pages1
dc.identifier.citationenDeep Levels in β-Ga2O3 Single Crystals Doped with Mg2+ Ions / A. Luchechko, V. Vasyltsiv, L. Kostyk, O. Tsvetkova // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 56. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
dc.relation.referencesen[1] K. Sasaki, M. Higashiwaki, A. Kuramata, T. Masui and S. Yamakoshi, IEEE Electron Device Lett. 34 (2013)493-495.
dc.relation.referencesen[2] M. Higashiwaki, K. Sasaki, A. Kuramata, T. Masui, S. Yamakoshi, Appl. Phys. Lett. 100 (2012) 013504.
dc.citation.conferenceМіжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
dc.citation.journalTitleОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
dc.citation.spage56
dc.citation.epage56
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
Appears in Collections:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
OMEE_2017_Luchechko_A-Deep_Levels_in_b_Ga2O3_Single_56.pdf59.52 kBAdobe PDFView/Open
OMEE_2017_Luchechko_A-Deep_Levels_in_b_Ga2O3_Single_56__COVER.png1.24 MBimage/pngView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.