Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/40048
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorGuziewicz, E.
dc.contributor.authorRatajczak, R.
dc.contributor.authorStachowicz, M.
dc.contributor.authorKrajewski, T. A.
dc.contributor.authorSnigurenko, D.
dc.contributor.authorTuros, A.
dc.coverage.temporal29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
dc.coverage.temporalMay 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
dc.date.accessioned2018-04-02T13:40:08Z-
dc.date.available2018-04-02T13:40:08Z-
dc.date.created2017-05-29
dc.date.issued2017-05-29
dc.identifier.citationOptical Properties of Epitaxial ZnO-ALD Films Implanted with Rare Earth / E. Guziewicz, R. Ratajczak, M. Stachowicz, T. A. Krajewski, D. Snigurenko, A. Turos // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 162. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation).
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40048-
dc.format.extent162
dc.language.isoen
dc.relation.ispartofОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
dc.relation.ispartofOxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
dc.titleOptical Properties of Epitaxial ZnO-ALD Films Implanted with Rare Earth
dc.typeConference Abstract
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
dc.contributor.affiliationInstitute of Physics, Polish Academy of Sciences, Warsaw, Poland
dc.contributor.affiliationNational Centre for Nuclear Research, Świerk, Poland
dc.contributor.affiliationInstitute of Electronic Materials Technology, Warsaw, Poland
dc.format.pages1
dc.identifier.citationenOptical Properties of Epitaxial ZnO-ALD Films Implanted with Rare Earth / E. Guziewicz, R. Ratajczak, M. Stachowicz, T. A. Krajewski, D. Snigurenko, A. Turos // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 162. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation).
dc.relation.referencesen[1] A.J. Kenyon, Prog. Quntum El. 26 (2002) 225.
dc.relation.referencesen[2] P.N. Favennec, H. L’Haridon, D. Moutonnet, M. Salvi, M. Gauneau, Rare Earth Doped Semiconductors, in: Pomrenke, Klein, Langer (Eds.), MRS Symposia Proceedings, Materials Research Society, Pittsburgh, PA, vol. 31, 181 (1993).
dc.relation.referencesen[3] R. Ratajczak, S. Prucnal, E. Guziewicz, C. Mieszczynski, D. Snigurenko, M. Stachowicz, W. Skorupa and A. Turos, J. Applied Phys. (in print).
dc.relation.referencesen[4] E. Guziewicz, R. Ratajczak, M. Stachowicz, D. Snigurenko, T.A. Krajewski, C. Mieszczynski, K. Mazur, B.S. Witkowski, P. Dluzewski, K. Morawiec, A Turos, Thin Solid Films (under consideration).
dc.citation.conferenceМіжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
dc.citation.journalTitleОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
dc.citation.spage162
dc.citation.epage162
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
Appears in Collections:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
OMEE_2017_Guziewicz_E-Optical_Properties_of_Epitaxial_162.pdf46.89 kBAdobe PDFView/Open
OMEE_2017_Guziewicz_E-Optical_Properties_of_Epitaxial_162__COVER.png1.23 MBimage/pngView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.