1. Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
2. Електронний архів Науково-технічної бібліотеки
3. Матеріали конференцій
4. Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування.
5. Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.

Title:	Presence of Oxygen in Ti-Al-C MAX Phases-Based Materials and their Stability in Oxidizing Environment at Elevated Temperatures
Authors:	Prikhna, T. Sverdun, V. Basyuk, T. Karpets, M. Ostash, O. Cabioc`h, Th. Javorska, L. Chartier, P. Ivasyshyn, A. Moshchil, V. Kalinka, A. Cyboroń, J. Dub, S. Podhurska, V. Kovylaev, V. Starostina, A. Serbenyuk, T.
Affiliation:	Institute for Superhard Materials of the National Academy of Sciences of Ukraine Avtozavodskaya Str., 04074 Kiev, Ukraine Physico-Mechanical Institute of the National Academy of Sciences of Ukraine Naukova Str., 79060 Lviv, Ukraine Universite de Poitiers, CNRS/ Laboratoire PHYMAT, UMR 6630 CNRS Universite de Poitiers SP2MI, BP 30179 F-86962 Chasseneuil Futuroscope Cedex, France The Institute of Advanced Manufacturing Technology, ul. Wroclawska 37A, 30-011 Krakow, Poland EDL «Proton 21», 48a Chernovola Str., Kiev's region 08132, Vishnevoe, Ukraine
Bibliographic description (Ukraine):	Presence of Oxygen in Ti-Al-C MAX Phases-Based Materials and their Stability in Oxidizing Environment at Elevated Temperatures / T. Prikhna, V. Sverdun, T. Basyuk, M. Karpets, O. Ostash, Th. Cabioc`h, L. Javorska, P. Chartier, A. Ivasyshyn, V. Moshchil, A. Kalinka, J. Cyboroń, S. Dub, V. Podhurska, V. Kovylaev, A. Starostina, T. Serbenyuk // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 144. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation).
Bibliographic description (International):	Presence of Oxygen in Ti-Al-C MAX Phases-Based Materials and their Stability in Oxidizing Environment at Elevated Temperatures / T. Prikhna, V. Sverdun, T. Basyuk, M. Karpets, O. Ostash, Th. Cabioc`h, L. Javorska, P. Chartier, A. Ivasyshyn, V. Moshchil, A. Kalinka, J. Cyboroń, S. Dub, V. Podhurska, V. Kovylaev, A. Starostina, T. Serbenyuk // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 144. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation).
Is part of:	Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017 Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
Conference/Event:	Міжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
Journal/Collection:	Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
Issue Date:	29-May-2017
Place of the edition/event:	Львів Lviv
Temporal Coverage:	29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
Number of pages:	1
Page range:	144
Start page:	144
End page:	144
URI:	https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40028
Copyright owner:	© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
References (International):	[1] J. Rosen, P.O.Å. Persson, M. Ionescu, A. Kondyurin, D.R. McKenzie, and M.M.M. Bilek, Oxygen incorporation in Ti2AlC thin films, Appl. Phys. Lett. 92 (2008) 064102. [2] T. Liao, J. Wang, M. Li, and Y. Zhou, First-principles study of oxygen incorporation and migration mechanisms in Ti2AlC, J. Mater. Res. 24(10) (2009) 3190-3196.
Content type:	Conference Abstract
Appears in Collections:	Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.