| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Suchaneck, G. | |
| dc.contributor.author | Eydam, A. | |
| dc.contributor.author | Gerlach, G. | |
| dc.coverage.temporal | 29 травня–2 червня, 2017
Львів, Україна | |
| dc.coverage.temporal | May 29–June 2, 2017
Lviv, Ukraine | |
| dc.date.accessioned | 2018-04-02T13:39:44Z | - |
| dc.date.available | 2018-04-02T13:39:44Z | - |
| dc.date.created | 2017-05-29 | |
| dc.date.issued | 2017-05-29 | |
| dc.identifier.citation | Suchaneck G. Application of the Thermal Pulse Method for Nondestructive Evaluation of Embedded Piezoelectric Transducers / G. Suchaneck, A. Eydam, G. Gerlach // Oxide Materials
for Electronic Engineering –
fabrication, properties
and applications : book
of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017
Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 122. — (4 resistivity switching and transport phenomena). | |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40005 | - |
| dc.format.extent | 122 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.relation.ispartof | Оксидні матеріали
електронної техніки –
отримання, властивості,
застосування : збірник
тез міжнародної наукової конференції, 2017 | |
| dc.relation.ispartof | Oxide Materials
for Electronic Engineering –
fabrication, properties
and applications : book
of abstracts international conference, 2017 | |
| dc.title | Application of the Thermal Pulse Method for Nondestructive Evaluation of Embedded Piezoelectric Transducers | |
| dc.type | Conference Abstract | |
| dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2017 | |
| dc.contributor.affiliation | TU Dresden, Solid State Electronics Lab, 01062 Dresden, Germany | |
| dc.format.pages | 1 | |
| dc.identifier.citationen | Suchaneck G. Application of the Thermal Pulse Method for Nondestructive Evaluation of Embedded Piezoelectric Transducers / G. Suchaneck, A. Eydam, G. Gerlach // Oxide Materials
for Electronic Engineering –
fabrication, properties
and applications : book
of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017
Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 122. — (4 resistivity switching and transport phenomena). | |
| dc.relation.referencesen | [1] S.B. Lang and D.K. Das-Gupta, J. Appl. Phys. 59 (1986) 2151-2160. | |
| dc.relation.referencesen | [2] A. Mellinger, R. Singh, R. Gerhard-Multhaupt, Rev. Sci. Instrum. 76 (2005) 013903. | |
| dc.relation.referencesen | [3] G. Suchaneck et al., IEEE Tran. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 59 (2012) 1950-1954. | |
| dc.relation.referencesen | [4] A. Eydam et al., Adv. Appl. Ceram. 114 (2015) 226-230. | |
| dc.citation.conference | Міжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали
електронної техніки –
отримання, властивості,
застосування" | |
| dc.citation.journalTitle | Оксидні матеріали
електронної техніки –
отримання, властивості,
застосування : збірник
тез міжнародної наукової конференції | |
| dc.citation.spage | 122 | |
| dc.citation.epage | 122 | |
| dc.coverage.placename | Львів | |
| dc.coverage.placename | Lviv | |
| Appears in Collections: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.
|
