DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Дружинін, А. О. | - |
dc.contributor.author | Лавитська, О. М. | - |
dc.contributor.author | Островський, І. П. | - |
dc.contributor.author | Лях, Н. С. | - |
dc.date.accessioned | 2018-03-12T14:26:11Z | - |
dc.date.available | 2018-03-12T14:26:11Z | - |
dc.date.issued | 2002 | - |
dc.identifier.citation | Вплив деформації на домішкову провідність ниткоподібних кристалів твердих розчинів Ge-Si / А. О. Дружинін, О. М. Лавитська, І. П. Островський, Н. С. Лях // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2002. – № 455 : Електроніка. – С. 126–133. – Бібліографія: 13назв. | uk_UA |
dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/39598 | - |
dc.description.abstract | У роботі вивчено вплив деформації на електропровідність ниткоподібних кристалів (НК) GexSii-x (x = 0,01-0,03) в інтервалі температур 4,2-300 К. НК вирощували
методом хімічних транспортних реакцій в закритій бромідній системі з використанням домішок Au і B. Досліджували сильнолеговані кристали з питомим опором р = 0,005-0,025 Омсм, який відповідає близькості зразків до переходу метал-діелектрик. Деформація зразків здійснювалася їх закріпленням на спеціально підібрані підкладки (мідь, алюміній, кварц) з відмінним від матеріалу Ge-Si коефіцієнтом термічного розширення. Виявлений гігантський п’єзорезистивний ефект в НК при кріогенних температурах. Визначений коефіцієнт тензочутливості К<111> = Ар/(р0є) становить 10,000-30,000 при 4,2 K в НК з питомим опором р = 0,012-0,018 Омсм, відповідно. З кривих а = f(1/T) були розраховані енергії активації стрибкової провідності. Обговорюються можливі причини виявленого ефекту. The present paper deals with studies of deformation influence on GexSi1-x (x = 0,01-0,03) whisker conduction in the temperature range 4,2-300 K. The whiskers were grown by chemical vapour deposition method in a sealed bromide system with use of Au and B dopants. The whiskers with resistivity р = 0,005-0,025 Q cm were under investigation. The values of resistivity are corresponded to impurity concentrations closed to the metal-insulator transition. The strain was imposed by the whisker mounting on specially selected substrates (quartz, copper, aluminium) with thermal expansion coefficient different from that in Si-Ge material. The ‘giant’ piezoresistance was found in the specimens at cryogenic temperatures. Estimated longital gauge factor G<111> = Ар/(роЄ) is equal to 10,000-30,000 at 4,2 K in the
whiskers with resistivity р = 0,012-0,018 Q cm respectively. From the curves а = f(1/T) the activation energies for the hopping conductance in the whiskers have been calculated. Possible reasons of the obtain phenomena are discussed. | uk_UA |
dc.publisher | Видавництво Національного університету "Львівська політехніка" | uk_UA |
dc.title | Вплив деформації на домішкову провідність ниткоподібних кристалів твердих розчинів Ge-Si | uk_UA |
dc.title.alternative | Influence of deformation on impurity conduction in Si-Ge solid solution whiskers | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
dc.rights.holder | Дружинін А. О., Лавитська О. М., Островський І. П., Лях Н. С., 2002 | uk_UA |
dc.contributor.affiliation | Національний університет "Львівська політехніка" | uk_UA |
dc.coverage.country | UA | uk_UA |
dc.format.pages | 126-133 | - |
dc.relation.references | 1. Maryamova I., Druzhinin A., Lavitska E., Hortynska I., Yatzuk Y. / / Sensors and Actuators A85. - 2000. - P. 153-157. 2. Байцар P.И., Рак B.C. // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. - 1998. - 1 . - C. 29-31. 3. Gule E.G., Rudko G.Yu., KlimovskayaA.I. et.al. / / Proceedings SPIE. - 1995. - 2648. - P. 778-385. 4. Baitsar R.I., Kurylo I.V., Varshava S.S., Ostrovskii I.P. / / Functional materials. - 2001. - 8, N 2. - P. 373-376. 5. Druzhinin A., Hortynska I., Maryamova I., Lavitska E. et.al. / / Proceedings SPIE. - 2000. - 4413. P. 143-147. 6. Druzhinin A., Lavitska E., M aryamova I. et al. / / Cryst.Res. Technol. - 2002. - 37. - P. 243-257. 7. Chrobochek J.A., Pollak R.H., Staunton H.F. / / Philosophical Magazine. - 1984. - 50. - P. 113-156. 8. Шаховцева С.Ш., Семенюк Ю.А., Басокурова И.Н. / / УФЖ. - 1987. - 32, № 1. - С. 93-95. 9. Байцар Р.1., Варшава С.С., Островський 1.П. / / Вісн. Д У Львівська політехніка”. - 1999. - № 382. - С. 3-7. 10. Шкловский В.И., Эфос А.Л. Электронные свойства легированных полупроводников. - М., 1979. - 416 с. 11. Дружинін А.О., Лавитська О.М., Варшава С.С., Островський 1.П., Лях Н.С. / / Вісн. Н У “Львівська політехніка”. - 2001. - № 423. - С. 76-80. 12. Мотт Н.Ф. Переходы металл-изолятор. - М., 1979. - 342 с. 13. Баранский П.И., Клочков В.П., Потыкевич И.В. Полупроводниковая электроника: Справочник. - К., 1974. - 704 с. | uk_UA |
dc.citation.journalTitle | Вісник Національного університету "Львівська політехніка" | - |
dc.coverage.placename | Львів | uk_UA |
dc.subject.udc | 621.315.592 | uk_UA |
Appears in Collections: | Електроніка. – 2002. – №455
|