Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/3928
Title: Вплив технологічних параметрів осадження на кристалічну структуру тонких плівок CdTe, вирощених методом імпульсного лазерного напилення
Authors: Савчук, В.
Bibliographic description (Ukraine): Савчук В. Вплив технологічних параметрів осадження на кристалічну структуру тонких плівок CdTe, вирощених методом імпульсного лазерного напилення / В. Савчук // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2007. – № 592 : Електроніка. – С. 37–41. – Бібліографія: 17 назв.
Issue Date: 2007
Publisher: Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»
Keywords: технологічні параметри осадження
кристалічна структура
тонкі плівки
метод імпульсного лазерного напилення
Abstract: Досліджено вплив параметрів осадження в вакуумній камері (температура підкладки, тип підкладки) на формування кристалічної структури тонких плівок CdTe, вирощених методом імпульсного лазерного напилення. На основі аналізу результатів рентгено-дифракційних та електронно-мікроскопічних досліджень плівок CdTe, вирощених при різних параметрах осадження, встановлено, що основним фактором, який визначає кристалічний стан плівок, є температура підкладки. Effect of technological condensation parameters into vacuum chamber, such as substrate temperature and substrate type on crystalline structure of CdTe thin films grown by Pulsed Laser Deposition were studied. Examinations of CdTe thin films grown at various condensation parameters by X-ray diffraction and electron-diffraction methods were carried out. As a result, it was established that the substrate temperature is main parameter, which determines a crystallinity of grown films.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/3928
Content type: Article
Appears in Collections:Електроніка. – 2007. – №592

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
07.pdf321.12 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.