Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/38055
Title: Діагностика поверхневої дефектності напівпровідникових пластин
Authors: Павлиш, Володимир
Данчишин, Ігор
Корж, Роман
Вишняков, Дмитро
Bibliographic description (Ukraine): Діагностика поверхневої дефектності напівпровідникових пластин / Володимир Павлиш, Ігор Данчишин, Роман Корж, Дмитро Вишняков // Вісник Державного університету «Львівська політехніка». – 2001. – № 428 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 228–233. – Бібліографія: 7 назв.
Issue Date: 2001
Publisher: Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»
Abstract: Запропоновано автоматизований метод та конструкцію пристрою для оптичного контролю поверхневої дефектності базових шарів ІС. The automation technique and construction of the device for IC’s basic layer surface defectivity optical control are proposed at present paper.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/38055
Content type: Article
Appears in Collections:Радіоелектроніка та телекомунікації. – 2001. – №428

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
41_228-233.pdf130.23 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.