Дослідження фазових портретів шуму електронних пристроїв

Abstract

Експериментально досліджено шуми електронних приладів для їх динамічної ідентифікації. Проведено моделювання фазових траєкторій за допомогою осциляторної моделі. Аналіз часових змін амплітуди шумів підтвердив їх фрактальну природу. Параметри фазових портретів спектральних компонент шуму дають можливість автенти- фікації електронних приладів. Експериментально зафіксований ефект формування часових структур у спектрі шумів. The article deals with the experimental studies of noise for dynamic identification of electronic devices. The simulation of phase trajectory was carried out using the oscillator model. Analysis of the noise temporal characteristics confirms their fractal nature. Parameters of phase portraits of spectral noise components enable us to conduct the electronic devices authentication. Experimental studies have shown that there is the effect of temporary structures formation in the behavior of the noise spectrum.