Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/30919
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПелещак, Р.М.-
dc.contributor.authorРудницький, С.В.-
dc.date.accessioned2015-12-23T13:23:30Z-
dc.date.available2015-12-23T13:23:30Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.citationПелещак Р. М. Зміна заповнення електронних станів вздовж осі надгратки GaAs-Si (δ), зумовлена неузгодженістю параметрів / Р. М. Пелещак, С. В. Рудницький // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2003. – № 482 : Електроніка. – С. 141–147. – Бібліографія: 10 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/30919-
dc.description.abstractРозраховано зміни концентрації електронів у напрямку осі гетероструктури GaAs-Si (δ). Встановлено, що в центрі δ-шару створюється область збіднення і натомість на гетеромежі спостерігається підвищення концентрації електронів.Досліджено залежність зміни концентрації від параметра надгратки.Change of a charge concentration in heterostructure GaAs-Si (δ) are investigated.It established, that the center of a δ-layer is area of poverty and on heteroborders there is a surplus of concentration of charges. The influence of parameters superlattice on concentration distribution is a analyzed.uk_UA
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.titleЗміна заповнення електронних станів вздовж осі надгратки GaAs-Si (δ), зумовлена неузгодженістю параметрівuk_UA
dc.title.alternativeChange of electronic states filling along superlattice axes GaAs-Si (δ) caused by mismatch of a lattice parametersuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Електроніка. – 2003. – №482

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
21-141-147.pdf932.89 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.