DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Буджак, Я. С. | - |
dc.contributor.author | Дружинін, А. О. | - |
dc.contributor.author | Островський, І. П. | - |
dc.contributor.author | Когут, Ю. Р. | - |
dc.date.accessioned | 2015-12-17T10:28:54Z | - |
dc.date.available | 2015-12-17T10:28:54Z | - |
dc.date.issued | 2006 | - |
dc.identifier.citation | Првідність легованих ниткоподібних критсалів твердого розчину Si-Ge / Я. С. Буджак, А. О. Дружинін, І. П. Островський, Ю. Р. Когут // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2006. – № 569 : Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – С. 133–137. – Бібліографія: 6 назв. | uk_UA |
dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/30558 | - |
dc.description.abstract | Досліджено залежності провідності ниткоподібних кристалів твердого розчину SiGe <В, Pt> від температури (4,2-250К). На основі врахування механізмів розсіювання носіїв заряду у кристалах визначена енергія активації та концентрації легуючих домішок. The conductance dependencies for Si-Ge<B, Pt> solid solution whiskers on temperature (4,2-250K) were studied. Accounting mechanisms of charge carrier scattering in the crystals
the impurity activation energy and doping concentrations were evaluated. | uk_UA |
dc.language.iso | ua | uk_UA |
dc.publisher | Видавництво Національного університету "Львівська політехніка" | uk_UA |
dc.title | Првідність легованих ниткоподібних критсалів твердого розчину Si-Ge | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Елементи теорії та прилади твердотілої електроніки. – 2006. – №569
|