Skip navigation

putin IS MURDERER

Електроніка. – 2009. – №646 : [32] Collection home page

Logo

Вісник Національного університету "Львівська політехніка"

У Віснику опубліковані результати наукові-технічних досліджень у галузі технологічних, експериментальних, теоретичних та методологічних проблем електроніки та оптоелектроніки, фізики і техніки напівпровідників та напівпровідникового матеріалознавства, фізики твердого тіла, фізики, техніки та використання елементів, приладів та систем сучасної електронної техніки. Тематика Вісника Національного університету “Львівська політехніка” “Електроніка” охоплює такі розділи електроніки: матеріали електронної техніки; фізика, технологія та виробництво елементів, приладів та систем електронної техніки; фізика і техніка напівпровідників, металів, діелектриків та рідких кристалів; експериментальні та теоретичні дослідження електронних процесів; методика досліджень. У Віснику “Електроніка” публікуються оглядові та дослідницькі роботи, присвячені його тематиці (але не обмежені лише нею). Роботи можуть подавати як співробітники Львівської політехніки, так і будь-яких інших навчальних чи наукових закладів. Роботи авторів з України друкуються українською мовою. Для наукових працівників, інженерів і студентів старших курсів електрофізичних та технологічних спеціальностей.

Вісник Національного університету «Львівська політехніка» : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки України, Національний університет «Львівська політехніка» – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2009. – № 646 : Електроніка / відповідальний редактор Д. Заярчук. – 228 с. : іл.

Browse
Subscribe to this collection to receive daily e-mail notification of new additions RSS Feed RSS Feed RSS Feed
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 20 of 32
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)PreviewTypeIssue DateTitleAuthor(s)
2009Модель інфрачервоних тонкоплівкових фільтрів на основі інтерференційного дзеркалаЯремчук, І. Я.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.Article2009Модель інфрачервоних тонкоплівкових фільтрів на основі інтерференційного дзеркалаЯремчук, І. Я.; Фітьо, В. М.; Бобицький, Я. В.
2009Характеристики ефективності магнітооптичної візуалізації просторових неоднорідностей магнітного поля методом індикаторної плівкиУбізський, С. Б.; Павлик, Л. П.; Сиворотка, І. І.Article2009Характеристики ефективності магнітооптичної візуалізації просторових неоднорідностей магнітного поля методом індикаторної плівкиУбізський, С. Б.; Павлик, Л. П.; Сиворотка, І. І.
2009Класифікація подвійних перестановок як представлення фейнманових діаграм для електрон-фононної взаємодіїТовстюк, К. К.Article2009Класифікація подвійних перестановок як представлення фейнманових діаграм для електрон-фононної взаємодіїТовстюк, К. К.
2009Електроннa енергетичнa структура алмазу, кремнію та германію, отримана з урахуванням градієнтних поправок до функціоналів обмінної й кореляційної енергіїCиротюк, С. В.; Кинаш, Ю. Є.; Швед, В. М.Article2009Електроннa енергетичнa структура алмазу, кремнію та германію, отримана з урахуванням градієнтних поправок до функціоналів обмінної й кореляційної енергіїCиротюк, С. В.; Кинаш, Ю. Є.; Швед, В. М.
2009Формування буферних шарів GaAs для нарощування квантових точок методом низькотемпературної рідинно-фазної епітаксії.Заячук, Д. М.; Круковський, С. І.; Михащук, Ю. С.Article2009Формування буферних шарів GaAs для нарощування квантових точок методом низькотемпературної рідинно-фазної епітаксії.Заячук, Д. М.; Круковський, С. І.; Михащук, Ю. С.
2009Залежність режиму роботи джозефсонівських кріотронів від сили струму зміщенняТиханський, М. В.; Партика, А. І.Article2009Залежність режиму роботи джозефсонівських кріотронів від сили струму зміщенняТиханський, М. В.; Партика, А. І.
2009Розсіяння важких дірок на близькодіючому потенціалі кристалічних дефектів у твердому розчині ZnxCd1-xTe (0.16 ≤ x ≤ 0.9)Малик, О. П.Article2009Розсіяння важких дірок на близькодіючому потенціалі кристалічних дефектів у твердому розчині ZnxCd1-xTe (0.16 ≤ x ≤ 0.9)Малик, О. П.
2009Вплив концентрації іонів марганцю на люмінесцентні властивості кристалів YAlO3:MNЖидачевський, Я. А.Article2009Вплив концентрації іонів марганцю на люмінесцентні властивості кристалів YAlO3:MNЖидачевський, Я. А.
2009Оптимізація параметрів сканувального інтерферометра Фабрі-Перо з цифровою обробкою вихідного сигналуТатарин, В. Я.; Петровська, Г. А.Article2009Оптимізація параметрів сканувального інтерферометра Фабрі-Перо з цифровою обробкою вихідного сигналуТатарин, В. Я.; Петровська, Г. А.
2009Аналіз реактивного кола збудження ферозонда з обертальним перемагнічуванням дискового осердяПавлик, Л. П.; Убізський, С. Б.; Лозинський, А. Б.; Савицький, Г. В.Article2009Аналіз реактивного кола збудження ферозонда з обертальним перемагнічуванням дискового осердяПавлик, Л. П.; Убізський, С. Б.; Лозинський, А. Б.; Савицький, Г. В.
2009Оптоелектронний контроль фотоферезуДідич, І. Р.; Зазуляк, А. М.; Кожухар, О. Т.; Скіра, М. С.Article2009Оптоелектронний контроль фотоферезуДідич, І. Р.; Зазуляк, А. М.; Кожухар, О. Т.; Скіра, М. С.
2009Фототепловий метод визначення параметрів тонких плівокДемкович, І. В.; Петровська, Г. А.; Бобицький, Я. В.Article2009Фототепловий метод визначення параметрів тонких плівокДемкович, І. В.; Петровська, Г. А.; Бобицький, Я. В.
2009Метод та пристрій для здійснення амплітудної модуляції багатьох складовихГорбатий, І. В.Article2009Метод та пристрій для здійснення амплітудної модуляції багатьох складовихГорбатий, І. В.
2009Інтерферометрична установка для визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин в діапазонах мм-субм довжин хвиль. Апробація на прикладі оптичного скла і кристалів кварцу, сапфіру та евлітинуАндрущак, Н. A.; Сиротинський, О. І.Article2009Інтерферометрична установка для визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин в діапазонах мм-субм довжин хвиль. Апробація на прикладі оптичного скла і кристалів кварцу, сапфіру та евлітинуАндрущак, Н. A.; Сиротинський, О. І.
2009Питомі втрати потужності газового розряду та ефективність збудження ексиплексних молекул суміші Ar-Kr-Xe-Cl2Чигінь, В.; Горун, П.Article2009Питомі втрати потужності газового розряду та ефективність збудження ексиплексних молекул суміші Ar-Kr-Xe-Cl2Чигінь, В.; Горун, П.
2009Просторовий розподіл електроіндукованих змін оптичного шляху в кристалах LiNbO3:MgOЮркевич, О. В.; Сольський, І. М.; Андрущак, А. С.Article2009Просторовий розподіл електроіндукованих змін оптичного шляху в кристалах LiNbO3:MgOЮркевич, О. В.; Сольський, І. М.; Андрущак, А. С.
2009Мультиструктура для фронтальної поверхні сонячних елементівЄрохов, В. Ю.Article2009Мультиструктура для фронтальної поверхні сонячних елементівЄрохов, В. Ю.
2009Принципи електротеплового моделювання електронних схем з динамічним саморозігрівом елементівГотра, З. Ю.; Голяка, Р. Л.; Павлов, С. В.; Куленко, С. С.Article2009Принципи електротеплового моделювання електронних схем з динамічним саморозігрівом елементівГотра, З. Ю.; Голяка, Р. Л.; Павлов, С. В.; Куленко, С. С.
2009Розподіл поля діелектричної пластини зі складним профілем зміни діелектричної проникностіГоблик, В. В.; Павлиш, В. А.; Ничай, І. В.Article2009Розподіл поля діелектричної пластини зі складним профілем зміни діелектричної проникностіГоблик, В. В.; Павлиш, В. А.; Ничай, І. В.
2009Роль поверхні у процесі перезарядження Yb2+ ® Yb3+ у монокристалічних епітаксійних шарах Yb:Y3Al5O12Мартинюк, Н. В.; Бурий, О. А.; Убізський, С. Б.; Сиворотка, І. І.; Бьоргер, А.; Беккер, К. Д.Article2009Роль поверхні у процесі перезарядження Yb2+ ® Yb3+ у монокристалічних епітаксійних шарах Yb:Y3Al5O12Мартинюк, Н. В.; Бурий, О. А.; Убізський, С. Б.; Сиворотка, І. І.; Бьоргер, А.; Беккер, К. Д.
Collection's Items (Sorted by Submit Date in Descending order): 1 to 20 of 32