https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/2487| Title: | Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму |
| Authors: | Колодій, З. О. Недоступ, Л. А. Колодій, А. З. |
| Bibliographic description (Ukraine): | Колодій З. О. Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму / З. О. Колодій, Л. А. Недоступ, А. З. Колодій // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 645 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 236-238. – Бібліографія: 6 назв. |
| Issue Date: | 2009 |
| Publisher: | Видавництво Національного університету «Львівська політехніка» |
| Keywords: | спектральна густина флікер-шум spectral density flicker-noise |
| Abstract: | Запропоновано методику оцінки дефектності структури елементів електроніки за мінімальним значенням спектральної густини потужності їх флікер-шуму і мінімальним значенням середнього квадрата напруги шумів в діапазоні низьких частот. The method of estimation of electronic elements reliability using their minimal value of flicker-noise power spectral density and minimal value of noises voltage average square in the range of low frequencies is proposed. |
| URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2487 |
| Content type: | Article |
| Appears in Collections: | Радіоелектроніка та телекомунікації. – 2009. – №645 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.