Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/24021
Title: Процеси перезарядження йонів Yb2+ ® Yb3+ в епітаксійних плівках Yb:Y3Al5O12 під час високотемпературних відпалів
Other Titles: Recharging processes of Yb2+ ® Yb3+ IONS in Yb:Y3Al5O12 EPITAXIAL FILMS under high temperature annealing
Authors: Мартинюк, Н. В.
Бурий, О. А.
Убізський, С. Б.
Сиворотка, І. І.
Bibliographic description (Ukraine): Процеси перезарядження йонів Yb2+ ® Yb3+ в епітаксійних плівках Yb:Y3Al5O12 під час високотемпературних відпалів / Н. В. Мартинюк, О. А. Бурий, С. Б. Убізський, І. І. Сиворотка // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2013. – № 764 : Електроніка. – С. 119–128. – Бібліографія: 23 назв.
Issue Date: 2013
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: ітербій
ітрій-алюмінієвий гранат (ІАГ)
зміна зарядового стану йонів
кінетика окислення
ytterbium
yttrium-aluminum garnet (YAG)
recharging of ions
oxidation kinetic
Abstract: У роботі подано результати вивчення процесів перезарядження йонів Yb3+ ↔ Yb2+ в епітаксійних плівках Yb:Y3Al5O12 під впливом високотемпературних відпалів. Експериментально одержано кінетики окиснення та відновлення, встановлено якісні відмінності у перебігу процесів окиснення Yb2+ ® Yb3+ в епітаксійних плівках та об'ємних кристалах Yb:Y3Al5O12, зроблено аналіз причин цих відмінностей. Виявлено істотний вплив структури приповерхневого шару зразка нашвидкість процесу окиснення. In this communication we report the results of our study of the Yb3+ ↔ Yb2+ recharge processes in Yb:Y3Al5O12 epitaxial films under high temperature annealing. Oxidation and reduction kinetics have been experimentally obtained. It was revealed that recharge process Yb2+ ® Yb3+ differs in films from that in bulk crystals, and reasons of such distinction have been analyzed. Influence of sample surface structure on the rate of oxidation process was found to be significant.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/24021
Content type: Article
Appears in Collections:Електроніка. – 2013. – №764

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
21-119-128.pdf514.89 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.