Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/22629
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСєрбов, Михайло-
dc.contributor.authorВоронько, Ірина-
dc.date.accessioned2014-01-21T09:36:07Z-
dc.date.available2014-01-21T09:36:07Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.citationСєрбов М. Дифракційний метод контролю якості отворів / Михайло Сєрбов, Ірина Воронько // Комп'ютерні науки та інженерія : матеріали V Міжнародної конференції молодих вчених CSE-2011, 24–26 листопада 2011 р., Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 282–283. – (3-й Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Титульний аркуш та текст паралельно англійською. – Бібліографія: 2 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/22629-
dc.description.abstractУ статті розглядається оптичний метод контролю, завдяки якому здійснюється виявлення дефектів скрізних отворів в деталях з композитних матеріалів. Пропо- нується використовувати принцип Г.Б. Ейрі для спосте- реження дифракційної картини на круглому отворі.uk_UA
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectоптичний приладuk_UA
dc.subjectконтрольuk_UA
dc.subjectдифракціяuk_UA
dc.subjectдифракційна картинаuk_UA
dc.subjectотвірuk_UA
dc.subjectдефектuk_UA
dc.titleДифракційний метод контролю якості отворівuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Комп'ютерні науки та інженерія (CSE-2011 ). – 2011 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
102-SierbovM-282-283.pdf183.12 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.